【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体芯片测试，特别是涉及一种芯片测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
1、半导体芯片测试，能够用于验证芯片功能和性能、筛选不良芯片、保证产品可靠性等，在芯片制造和芯片应用中具有重要意义。随着半导体行业的发展，对半导体芯片测试设备的性能和效率也提出了更高的要求。
2、传统技术中，芯片测试对应不同的测试任务，计算机依次执行待测芯片对应的测试任务，得到测试结果。然而，通过这种方式进行芯片测试，效率低下，很难满足测试需求。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高效率的芯片测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
2、第一方面，本申请提供了一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：
3、响应于接收到控制模块发送的测试开始指令，确定所述测试开始指令对应的目标测试模块；
4、基于测试模块与终端之间的关联关系，确定与所述目标测试模块相匹配的目标终端；>
5、发送测试本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于测试模块与终端之间的关联关系，确定与所述目标测试模块相匹配的目标终端，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述测试开始指令对应的目标测试模块，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法应用于测试系统的第一终端的信息交互模块，所述测试系统还包括至少一个第二终...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于测试模块与终端之间的关联关系，确定与所述目标测试模块相匹配的目标终端，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述测试开始指令对应的目标测试模块，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法应用于测试系统的第一终端的信息交互模块，所述测试系统还包括至少一个第二终端，所述第一终端还包括测试执行...
【专利技术属性】
技术研发人员：雷金树，游飞，肖建利，周扬，胡勇，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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