【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及短路保护领域,具体涉及一种短路保护系统。
技术介绍
1、sic mosfet的短路承受能力较弱,因此需要能够快速动作的短路保护电路对sicmosfet进行保护。目前,sic mosfet的短路检测方法主要有以下四种:去饱和检测法、电感检测法、门极电压检测法及基于罗氏线圈的短路检测法。其中,去饱和检测法需要设置一定的消隐时间来避免误检测,其保护速度相对较慢;电感检测法保护速度比较快,易于实现,但回路中的电感较大时,短路时的电流变化率较小,无法同正常开关进行区分,因此无法对负载短路故障进行高性能检测;门极电压检测法只能对硬开关短路故障进行保护,不能对负载短路故障进行保护;基于罗氏线圈的短路检测法存在带宽较低、安装不方便以及抗绕性差等缺点。
技术实现思路
1、有鉴于此,本专利技术提供了一种短路保护系统,以解决现有技术中sic mosfet模块的短路保护电路不能同时对sic mosfet的硬开关短路故障以及负载短路故障进行快速、可靠且有效的保护的问题。
2、本专利技术提供
...【技术保护点】
1.一种短路保护系统,其特征在于,所述系统包括SiC MOSFET管驱动电路(100)、第一短路检测电路(200)和第二短路检测电路(300);所述SiC MOSFET管驱动电路(100)分别与所述第一短路检测电路(200)和所述第二短路检测电路(300)连接;所述SiC MOSFET管驱动电路(100)包括目标SiC MOSFET管(110),用于控制和驱动所述目标SiC MOSFET管(110)工作;
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述第一短路检测电路(200)包括第一电压检测电路(210)、第一比较电路(220)和第二比较电路(230);
3.根...
【技术特征摘要】
1.一种短路保护系统,其特征在于,所述系统包括sic mosfet管驱动电路(100)、第一短路检测电路(200)和第二短路检测电路(300);所述sic mosfet管驱动电路(100)分别与所述第一短路检测电路(200)和所述第二短路检测电路(300)连接;所述sic mosfet管驱动电路(100)包括目标sic mosfet管(110),用于控制和驱动所述目标sic mosfet管(110)工作;
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述第一短路检测电路(200)包括第一电压检测电路(210)、第一比较电路(220)和第二比较电路(230);
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,若所述第一电压大于所述第二阈值电压,则所述第二比较电路(230)输出所述第二检测信号;
4.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述第一电压检测电路(210)包括检测电路和分压电路;
5.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所...
【专利技术属性】
技术研发人员:张少昆,张栋,范涛,温旭辉,
申请(专利权)人:中国科学院电工研究所,
类型:发明
国别省市:
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