一种由粗到细的多尺度双支路图像曝光校正方法技术

技术编号:42493377 阅读:23 留言:0更新日期:2024-08-21 13:11
本发明专利技术属于图像处理技术领域,涉及一种由粗到细的多尺度双支路图像曝光校正方法,先通过动态区域感知卷积来学习过曝和欠曝区域的区域表示,再结合双支路光照学习机制在一张图片中同时定位过曝和欠曝区域,然后通过多尺度曝光融合技术将曝光校正后的多张图像进行融合,输出最终的融合图像,利用动态区域感知卷积和双支路光照学习机制,在一张图片中同时定位过曝和欠曝区域并进行图像区域自适应增强,并利用多尺度曝光融合技术,将增强后的不同曝光图像融合为信息更丰富的图像。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于图像处理,涉及一种由粗到细的多尺度双支路图像曝光校正方法,通过双支路光照学习机制在一张图片中同时定位过曝和欠曝区域,并进行区域图像自适应增强,同时结合多尺度曝光融合算法将增强后的不同曝光图像融合为信息更丰富的图像。


技术介绍

1、当图像中同时存在欠曝和过曝区域时,可能会导致图像细节的丢失和信息不完整,通过图像曝光校正技术,可以帮助恢复图像中欠曝和过曝区域的细节和信息,使得图像更加丰富和完整。这对于许多应用领域如计算机视觉、医学图像处理和遥感图像分析等至关重要。同时,在许多图像处理任务中,欠曝和过曝的图像可能会降低后续处理算法的性能,如目标检测、图像分割等,通过曝光校正技术,可以在图像预处理阶段就对图像进行调整,从而提高后续处理算法的准确性和效率。例如,cn112581392a公开了一种基于双向光照估计与融合修复的图像曝光校正方法、系统及存储介质,所述方法包括:将原始输入图像i及其反向图inv输入双向光照估计网络,得到前向光照图s和反向光照图sinv;联合i、inv、s和sinv得到欠曝光校正结果uc和过曝光校正结果oc;融合网络将所述i、uc本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种由粗到细的多尺度双支路图像曝光校正方法,其特征在于,具体包括以下步骤:

2.根据权利要求1由粗到细的多尺度双支路图像曝光校正方法,其特征在于,步骤S1所述动态区域感知的特征提取模块采用Unet网络的编码器-解码器架构,其中解码器中设有多尺度局部颜色分布模块,动态区域感知的特征提取模块提取特征的具体过程为:

3.根据权利要求2由粗到细的多尺度双支路图像曝光校正方法,其特征在于,步骤S12得到多尺度局部颜色分布图的过程为:

4.根据权利要求3由粗到细的多尺度双支路图像曝光校正方法,其特征在于,步骤S2的具体过程为:

5.根据权利要求4由...

【技术特征摘要】

1.一种由粗到细的多尺度双支路图像曝光校正方法,其特征在于,具体包括以下步骤:

2.根据权利要求1由粗到细的多尺度双支路图像曝光校正方法,其特征在于,步骤s1所述动态区域感知的特征提取模块采用unet网络的编码器-解码器架构,其中解码器中设有多尺度局部颜色分布模块,动态区域感知的特征提取模块提取特征的具体过程为:

...

【专利技术属性】
技术研发人员:王永刘寒松王国强刘瑞李越
申请(专利权)人:松立控股集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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