存储设备硬件调试的方法及系统技术方案

技术编号:4247940 阅读:302 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提出了一种存储设备硬件调试的方法及系统。该方法包括以下步骤:建立被调试存储设备的镜像,该镜像的存储单元与被调试存储设备的存储单元一一映射;对被调试存储设备和镜像进行读写操作;根据镜像定位被调试存储设备的缺陷。本发明专利技术所提出的存储设备硬件调试的方法及系统,可以辅助高速设备的硬件调试,使调试难度降低,缩减硬件的开发周期。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机
,更具体地涉及存储设备的硬件调试技术。
技术介绍
随着材料科学的发展以及一些应用对存储带宽和延迟的较高需求,一些新的高 速存储设备逐渐被研究开发出来,如闪存(Flash Memory)、固态硬盘(SSD :Solid State Disk)以及基于内存颗粒的存储设备等,以弥补磁盘性能的不足。这一类产品尚无足够的技 术积累,而且本身高带宽低延迟的特性也容易导致缺陷(Bug)的产生。产生一次缺陷通常 对应于某一种读写模式(Pattern),开发者经常需要利用这一序列来重现缺陷进行调试。 为了较全面地对一个开发中的存储产品进行测试和调试,采用确定的读写序列作 为输入往往不能较好地覆盖所有可能的问题。将存储设备接入真实的计算机系统,由多种 应用程序、基准测试程序(Benchmark)通过操作系统对该设备发送读写请求,是比较好的 检测方法。然而由于操作系统进程调度、1/0调度等服务的不确定性,能够导致一次设备缺 陷的读写模式很难被记录并重现。本专利技术解决了这一问题,可以在操作系统内核中以较小 的开销来记录和重现导致存储设备bug产生的读写模式。 现有技术有两种本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储设备硬件调试的方法,其特征在于,包括以下步骤:    建立被调试存储设备的镜像,所述镜像的存储单元与所述被调试存储设备的存储单元一一映射;    对所述被调试存储设备和所述镜像进行读写操作;    根据所述镜像定位所述被调试存储设备的缺陷。

【技术特征摘要】
一种存储设备硬件调试的方法,其特征在于,包括以下步骤建立被调试存储设备的镜像,所述镜像的存储单元与所述被调试存储设备的存储单元一一映射;对所述被调试存储设备和所述镜像进行读写操作;根据所述镜像定位所述被调试存储设备的缺陷。2. 根据权利要求1所述的存储设备硬件调试的方法,其特征在于,对所述被调试存储 设备和所述镜像进行读写操作包括在对所述被调试存储设备进行写操作时,对所述镜像中的相应的存储单元进行相同的 所述写操作;在对所述被调试存储设备中的存储单元进行读操作时,读取所述镜像中相应的存储单 元的数据。3. 根据权利要求2所述的存储设备硬件调试的方法,其特征在于,根据所述镜像定位 所述被调试存储设备的缺陷的步骤包括将所述被调试存储设备中读取的数据与所述镜像中相应的存储单元进行对比,若不一 致则报错。4. 根据权利要求1所述的存储设备硬件调试的方法,其特征在于,对所述被调试存储 设备和所述镜像进行写操作还包括在所述镜像中设置位图,所述位图指示所述被调试存储设备的相应的存储单元是否进 行过写操作。5. 根据权利要求4所述的存储设备硬件调试的方法,其特征在于,对所述被调试存储设备进行写操作包括检查所述被调试存储设备相应的存储单元所对应的位图,如果所述位图指示所述存储 单元未进行过写操作,则在所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:邵宗有聂华历军郑规
申请(专利权)人:曙光信息产业北京有限公司
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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