一种用于等离子体的防扩散污染装置及其使用方法制造方法及图纸

技术编号:42469193 阅读:30 留言:0更新日期:2024-08-21 12:54
本发明专利技术公开了一种用于等离子体的防扩散污染装置,包括基座以及可拆卸安装在基座上的盖板;所述基座开设有供离子源激发射入的中空腔,所述盖板开设有与所述中空腔连通的连通孔;所述基座位于所述中空腔的一侧可拆卸安装有抽吸管,所述抽吸管的腔室与所述中空腔的腔室连通。本发明专利技术能够当离子束在不加工工件时,避免产生的等离子体会溅射真空腔体,造成污染。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及等离子体加工,具体是一种用于等离子体的防扩散污染装置及其使用方法


技术介绍

1、等离子体加工常处于真空环境中,并对真空环境有较高的要求,等离子发生设备源源不断地产生等离子体,持续输出的等离子体在真空环境中四处飘移,不对产生的等离子体加以处理,会对真空环境造成污染,影响加工效率以及加工效果。

2、在等离子体加工过程中,为使工件表面能够达到加工要求,必须有效控制加工过程中真空环境中的等离子体飘移,减少真空环境中的等离子体。目前的装置一般只能控制等离子体的溅射,不能限制等离子体的飘移。


技术实现思路

1、本申请提供了一种用于等离子体的防扩散污染装置,当离子束在不加工工件时,进而避免产生的等离子体会溅射真空腔体中造成污染。

2、一方面,本申请提供的一种用于等离子体的防扩散污染装置,包括基座以及可拆卸安装在基座上的盖板;所述基座开设有供离子源激发射入的中空腔,所述盖板开设有与所述中空腔连通的连通孔;所述基座位于所述中空腔的一侧可拆卸安装有抽吸管,所述抽吸管的腔室与所述中空腔的腔室本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于等离子体的防扩散污染装置,其特征在于,包括基座(1)以及可拆卸安装在基座(1)上的盖板(2);所述基座(1)开设有供离子源激发射入的中空腔(11),所述盖板(2)开设有与所述中空腔(11)连通的连通孔(21);所述基座(1)位于所述中空腔(11)的一侧可拆卸安装有抽吸管(3),所述抽吸管(3)的腔室与所述中空腔(11)的腔室连通。

2.如权利要求1所述的用于等离子体的防扩散污染装置,其特征在于,所述基座(1)位于所述中空腔(11)的腔壁形成有供离子源运行的抛物面;所述盖板(2)的底部环绕设置有导流板(22);所述导流板(22)位于所述中空腔(11)内将所述中空腔(...

【技术特征摘要】

1.一种用于等离子体的防扩散污染装置,其特征在于,包括基座(1)以及可拆卸安装在基座(1)上的盖板(2);所述基座(1)开设有供离子源激发射入的中空腔(11),所述盖板(2)开设有与所述中空腔(11)连通的连通孔(21);所述基座(1)位于所述中空腔(11)的一侧可拆卸安装有抽吸管(3),所述抽吸管(3)的腔室与所述中空腔(11)的腔室连通。

2.如权利要求1所述的用于等离子体的防扩散污染装置,其特征在于,所述基座(1)位于所述中空腔(11)的腔壁形成有供离子源运行的抛物面;所述盖板(2)的底部环绕设置有导流板(22);所述导流板(22)位于所述中空腔(11)内将所述中空腔(11)分隔成第一导流腔(111)以及第二导流腔(112);所述第一导流腔(111)与离子源所处空间相通,所述导流板(22)的底部与所述中空腔(11)底部的腔壁设有间隙(113),所述间隙(113)连通所述第一导流腔(111)和所述第二导流腔(112)。

3.如权利要求2所述的用于等离子体的防扩散污染装置,其特征在于,所述导流板(22)包括一体形成的连接部(221)、内凹部(222)以及外凸部(223),所述连接部(221)与所述盖板(2)的底部连接;所述内凹部(222)朝所述第一导流腔(111)的腔室方向向内凹陷;所述外凸部(223)向所述中空腔(11)底部的腔壁延伸,所述间隙(113)位于所述外凸部(223)与所述中空腔(11)底部的腔壁之间。

4.如权利要求2所述的用于等离子体的防扩散污染装置,其特征在于,所述基座(1)位于所述中空腔(11)抛物面的侧壁上开设有抽吸孔(12),所述抽吸孔(12)的长度方向平行于曲面的切线方向;所述抽吸管(3)固定并穿设所述抽吸孔(12)。

5.如权利要求4所述的用于等离子体的防扩散污染装置,其特征在于,所述抽吸管(3)包括第一管道(31)以及与所述第一管道(31)垂直连接的第二管道(32),所述第一管道(31)穿设所述抽...

【专利技术属性】
技术研发人员:李晓静朱航蒋凯巩书通张旭黄思玲
申请(专利权)人:中国兵器科学研究院宁波分院
类型:发明
国别省市:

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