【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及信息存储领域,尤其是一种闪存介质的快速筛选方法和系统。
技术介绍
现在闪存的市场越来越大,容量越来越高,开发商对扫描效率要求也越来越高。而与此同时,闪存的不良品出现的概率也越来越大,传统的扫描方法是先往闪存介质里面写入数据,然后再从闪存介质中读出数据,与写入的数据比较,以判断闪存介质是否合格。对于一片lGByte的闪存介质,扫描一次大概需要半个小时。所以如果用传统的扫描来挑选出这些不良品则需要很长的时间。如何快速筛选出这些不良品已经成为开发商越来越关注的问题。闪存介质由若干个块(block)组成,每个块由若干个页(page)组成,每个页又由若干个位(bit)组成,闪存以块为单位进行擦除操作,以页为单位进行编程(写)操作,每个位有0和1两种状态,用于存储数据。正常情况下,闪存中某个块在擦除之后,好的块中包含的所有位都应该为l,坏块擦除后无法保证所有位都为l,可能块中所有的位都是O,可能是几个页中的所有位都是O,也可能只有几个位是O,并且坏位表现可能不稳定,无法实现0和1之间的转换。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种扫描速度快,筛选效率高的闪存介 ...
【技术保护点】
一种闪存介质的快速筛选方法,用于筛选合格的闪存介质,其特征在于,包括如下的步骤: 设定用来界定闪存介质是否为不良品的预设比例; 擦除闪存介质所有块中的数据; 检测闪存介质中的坏块; 根据检测结果筛选合格的闪存介质。
【技术特征摘要】
1、一种闪存介质的快速筛选方法,用于筛选合格的闪存介质,其特征在于,包括如下的步骤设定用来界定闪存介质是否为不良品的预设比例;擦除闪存介质所有块中的数据;检测闪存介质中的坏块;根据检测结果筛选合格的闪存介质。2、 如权利要求l所述的闪存介质的快速筛选方法,其特征在于,所述的检测闪存介质中的坏块包括步骤读取闪存介质所有块中字节上的数据;检测读取的字节中的数据判断该字节每个位上的数据是否等于l;如果块中存在数据不等于l的位,则判断该块是坏块。3、 如权利要求l所述的闪存介质的快速筛选方法,其特征在于,所述的根据检测结果筛选合格的闪存介质包括步骤计算闪存介质中坏块所占的比例;合格品。4、 如权利要求2所述的闪存介质的快速筛选方法,其特征在于,所述的读取闪存介质所有块中字节上的数据包括步骤读取闪存介质所有块中至少 一 页的至少 一 字节的数据。5、 一种闪存介质的快速筛选系统,用于筛选合格的闪存介质,包括主机和闪存控制器,主机向闪存控制器发出操作命令并判断检测结果,闪存控制器执行主机的命令对闪存介质执行操作,闪存控制器包括控制单元和存储单元,其特征在于,包括如下步骤在主机上设定用来界定闪存介质是否为不良品的预设比例;主机向闪存控制器发送擦除命令,闪存控制器对闪存介质进行擦除操作;闪存控制器检测闪存介质中的坏块;闪存...
【专利技术属性】
技术研发人员:卢赛文,
申请(专利权)人:深圳市朗科科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]
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