光器件的静电消除方法以及光器件的制作方法技术

技术编号:42457000 阅读:25 留言:0更新日期:2024-08-21 12:47
本发明专利技术涉及光通信技术领域,提供了一种光器件的静电消除方法,包括如下步骤:S1,将功能部件封装在壳体中;S2,在壳体外设置FPC板,所述FPC板具有供导电焊盘设置的多个窗口,将靠近所述壳体的窗口处的所述导电焊盘与所述功能部件电连接,其他窗口处的导电焊盘裸露在外;S3,在裸露在外的导电焊盘上覆盖绝缘阻挡层,以消除从裸露在外的导电焊盘上进入所述壳体中的静电。还提供一种光器件的制作方法,包括上述的光器件的静电消除方法。本发明专利技术通过在靠外的窗口处覆盖绝缘阻挡层,可以避免裸露在外的导电焊盘与外界物体直接接触,也就不会发生摩擦接触而产生静电电荷,直接切断静电传播源,解决元件被静电击伤的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光通信,具体为一种光器件的静电消除方法以及光器件的制作方法


技术介绍

1、随着ai智能的兴起,对于数据传输速率要求越来越大,对应的数通产品速率也从40gbps、100gbps向更高速率的400gbps和800gbps升级演化。目前高速率的光器件主要有box封装和cob光引擎封装两种形式,box封装主要用于wdm(wavelength divisionmultiplexing,光波分复用)产品,需要对多个不同波长的光信号进行合波后传输,box器件通过fpc(flexible printed circuit,柔性印刷电路板)与功能电路pcb(printedcircuitboard)连接,这也是常见的box器件封装形式。box器件在生产时需要通过fpc给光/电芯片进行供电,但是随着速率越来越高,芯片有源区设计的越来越窄,芯片能够承受的静电电压也就越来越低。光芯片和电芯片其速率越高,能够承受的静电电压就越低,就越容易出现静电击伤问题,这是光器件封装领域非常容易出现的失效现象,且很难解决。

2、esd(electronic static 本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光器件的静电消除方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.如权利要求1所述的光器件的静电消除方法,其特征在于:将所述绝缘阻挡层粘贴在所述FPC板上。

3.如权利要求2所述的光器件的静电消除方法,其特征在于:所述绝缘阻挡层采用胶水粘贴在FPC板上,所述胶水设置的位置与靠近所述壳体的窗口之间具有间隔。

4.如权利要求1所述的光器件的静电消除方法,其特征在于:所述FPC板的正面和反面均覆盖有绝缘阻挡层。

5.如权利要求1所述的光器件的静电消除方法,其特征在于:对覆盖了绝缘阻挡层的光器件进行加电测试。

6.如权利要求5所述的光器件的...

【技术特征摘要】

1.一种光器件的静电消除方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.如权利要求1所述的光器件的静电消除方法,其特征在于:将所述绝缘阻挡层粘贴在所述fpc板上。

3.如权利要求2所述的光器件的静电消除方法,其特征在于:所述绝缘阻挡层采用胶水粘贴在fpc板上,所述胶水设置的位置与靠近所述壳体的窗口之间具有间隔。

4.如权利要求1所述的光器件的静电消除方法,其特征在于:所述fpc板的正面和反面均覆盖有绝缘阻挡层。

5.如权利要求1所述的光器件的静电消除方法,其特征在于:对覆盖了绝缘阻挡层的光器件进行加电测试。

6.如权利要求5所述的光器件的静电消除方法,其特征在于:在所述fpc板上加电对所述壳体中的功能部件进行测试。

7.如权利要求5所述的光器...

【专利技术属性】
技术研发人员:尹根李林科吴天书杨现文张健
申请(专利权)人:武汉联特科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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