一种用于延迟校准的电流采样电路及其控制方法技术

技术编号:42419233 阅读:27 留言:0更新日期:2024-08-16 16:35
本申请提供一种用于延迟校准的电流采样电路及其控制方法,该电路包括:电源模块、驱动模块、电压采样模块及电流采样模块,基于电源模块提供电源电压,通过脉冲信号对开关管进行驱动,电压采样模块对电阻进行电压采样,得到采样电压,通过电流采样模块对电流进行采样,得到第一采样电流,并通过匹配电阻和匹配电容将第一采样电流的相位校准至采样电压的相位,因该方案的采样带宽高于传统的一些采样方案,故可以提高采样结果的可靠高且采样成本更低,适合广泛使用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子电路检测领域,具体涉及一种用于延迟校准的电流采样电路及其控制方法


技术介绍

1、在电子电路中,开关管作为常用的器件之一,开关管的性能、稳定性和可靠性关乎后续使用电路的相关性能,因此检测开关管的开通损耗、关断损耗、开关时间等参数是非常重要的环节,在对开关管进行测试时,因探头存在技术差异,会导致不同的时间延迟,若电压信号和电路信号不同步,检测结果产生误差,无法准确检测开关管的参数。在相关技术中,可通过同轴分流器、皮尔逊传感器、罗氏线圈检测开关管的电流参数,上述电流传感器体积大、成本高,不适合大规模推广使用,还可通过不同型号校准板测量电流,但校准板的电压电流信号小,容易被噪声淹没,因此误差比较大。

2、因此,如何提供一种成本低、可靠性高的延迟校准的电流采样电路,是目前亟需解决的技术问题。


技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点,本专利技术提供一种用于延迟校准的电流采样电路及其控制方法,以解决上述技术问题中的至少之一。

2、为达到上述目的及其他相关目的,本申请提供的技本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于延迟校准的电流采样电路,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的用于延迟校准的电流采样电路,其特征在于,所述采样电路还包括:开关模块和电流传感器,所述开关模块接所述驱动模块、所述电流采样模块和所述电流传感器,用于切换电流的采样通道;所述电流传感器接所述开关模块和所述电源模块,对所述开关管的电流进行采样,得到第二采样电流。

3.根据权利要求2所述的用于延迟校准的电流采样电路,其特征在于,所述电压采样模块包括第一电阻、第二电阻、第一测试环、第二测试环,所述第一电阻的一端接所述第二电阻的一端,所述第一电阻的一端还接所述第一测试环,所述第一电阻的另一端接所...

【技术特征摘要】

1.一种用于延迟校准的电流采样电路,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的用于延迟校准的电流采样电路,其特征在于,所述采样电路还包括:开关模块和电流传感器,所述开关模块接所述驱动模块、所述电流采样模块和所述电流传感器,用于切换电流的采样通道;所述电流传感器接所述开关模块和所述电源模块,对所述开关管的电流进行采样,得到第二采样电流。

3.根据权利要求2所述的用于延迟校准的电流采样电路,其特征在于,所述电压采样模块包括第一电阻、第二电阻、第一测试环、第二测试环,所述第一电阻的一端接所述第二电阻的一端,所述第一电阻的一端还接所述第一测试环,所述第一电阻的另一端接所述第二电阻的另一端,所述第一电阻的另一端还接所述第二测试环,其中,所述第二电阻的一端接所述电源模块,所述第二电阻的另一端接所述驱动模块,所述第一测试环和所述第二测试环配合输出所述采样电压。

4.根据权利要求2所述的用于延迟校准的电流采样电路,其特征在于,所述驱动模块包括第三电阻、第四电阻、所述开关管、第一接线端子,所述第三电阻的一端接所述第四电阻的一端,所述第三电阻的一端还接所述开关管的控制端,所述第四电阻的另一端接所述开关管的一端,所述第四电阻的另一端还接所述第一接线端子的第一引脚,所述第三电阻的另一端接所述第一接线端子的第二引脚,其中,所述第一接线端子接所述脉冲信号,所述开关管的一端接所述开关模块,所述开关管的另一端接所述电压采样模块。

5.根据权利要求2所述的用于延迟校准的电流采样电路,其特征在于,所述开关模块包括n个第一跳线帽、n个第二跳线帽,n个所述第一跳线帽之间并联,所述第一跳线帽的第二引脚接所述第二跳线帽...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈云乔敖华阳成亮张航简洋陈苗周玉凤程朝霞
申请(专利权)人:重庆平伟实业股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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