【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测厚装置，更具体地说，尤其是涉及到一种多功能薄膜测厚装置。
技术介绍
1、多功能薄膜主要为透明的状态，测厚装置主要运用于光伏半导体材料、高分子材料等多功能薄膜的厚度测量，通过光干涉原理，不同的厚度产生的光反射会不同，进而通过射线对薄膜照射，从而快速准确的获取薄膜的厚度数据。
2、但是在测量固态硬物的光学薄膜材料时，由于采用的是光干涉原理，需要光源进行辅助测量，在测量期间走动的人员阴影容易照在检测盘上，进而容易影响光线的亮度，容易造成测量波动较大而不准确的问题，且测厚采用的是线扫描，为扫描到全部的样品位置，需要对样品进行旋转，样品在旋转惯性力下容易脱离中心而松动，同时容易造成薄膜样品移动而不在水平线上，进而旋转一圈后的样品位置出现位移，容易使扫描的点出现重复扫描，影响测量的准确性。
技术实现思路
1、本专利技术实现技术目的所采用的技术方案是：一种多功能薄膜测厚装置，其结构包括基座、测量机构、显示屏，所述测量机构安装于基座上端，所述显示屏嵌固在基座侧面，所述测量机构设...
【技术保护点】
1.一种多功能薄膜测厚装置，其结构包括基座（1）、测量机构（2）、显示屏（3），其特征在于：所述测量机构（2）安装于基座（1）上端，所述显示屏（3）嵌固在基座（1）侧面。
2.根据权利要求1所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述测量机构（2）设有处理器（21）、闭合机构（22）、照明灯（23）、机壳（24）、测量器（25），所述测量器（25）安装于处理器（21）下端，所述照明灯（23）与处理器（21）线路连接，所述处理器（21）卡合在机壳（24）内部，所述闭合机构（22）位于测量器（25）正下方，所述闭合机构（22）嵌固在基座（1）内部，所述机壳（...
【技术特征摘要】
1.一种多功能薄膜测厚装置，其结构包括基座（1）、测量机构（2）、显示屏（3），其特征在于：所述测量机构（2）安装于基座（1）上端，所述显示屏（3）嵌固在基座（1）侧面。
2.根据权利要求1所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述测量机构（2）设有处理器（21）、闭合机构（22）、照明灯（23）、机壳（24）、测量器（25），所述测量器（25）安装于处理器（21）下端，所述照明灯（23）与处理器（21）线路连接，所述处理器（21）卡合在机壳（24）内部，所述闭合机构（22）位于测量器（25）正下方，所述闭合机构（22）嵌固在基座（1）内部，所述机壳（24）安装于基座（1）上端。
3.根据权利要求2所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述闭合机构（22）设有平面板（w1）、卡合结构（w2）、密封结构（w3）、第一螺纹杆（w4）、金属块（w5）、第二螺纹杆（w6）、伸缩杆（w7）、支撑板（w8），所述伸缩杆（w7）嵌固在金属块（w5）下端，所述密封结构（w3）安装于伸缩杆（w7）侧面，所述密封结构（w3）上端嵌固在金属块（w5）下端，所述平面板（w1）嵌固在第二螺纹杆（w6）上端，所述第二螺纹杆（w6）与第一螺纹杆（w4）螺纹配合，所述卡合结构（w2）安装于平面板（w1）上端内部，所述第二螺纹杆（w6）活动卡合在支撑板（w8）内部，所述支撑板（w8）安装于基座（1）上端，所述第一螺纹杆（w4）嵌固在基座（1）内部，所述密封结构（w3）与伸缩杆（w7）下端安装于基座（1）内部。
4.根据权利要求3所述的一种多功能薄膜测厚装置，其特征在于：所述卡合结构（w2）设有第一弹簧（w21）、挤压块（w22）、平移块（w23）、固...
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