【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及金相检测，特别涉及一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装。
技术介绍
1、金相检测，主要是为了研究金相显微组织，通过测量与计算来确定三维组织的空间形貌，这种技术不仅仅大大提高了金相检验的准确率更是提高了其速度，大大缩短了工作时间，从某种意义上而言，金相检测就是在人们主观意识的基础上对于金属内部结构的研究与分析，将物理冶金学理论运用到实际的操作过程中，针对其金属以及合金的成分进行检验，性能的分析，因为检测的是金属材料内部的各种组织结构的形态及分部情况，同样的材料用在不同的地方，对其性能的要求是不一样的，所以其组织的形态结构也是不一样的，金相检测就是通过工件的金相组织形态判断该工件是否符合使用的性能要求。
2、对于金相的检测，会使用使用到倒置金相检测显微镜，目前大多的金相检测显微镜的底座多为平置设计，但是不具备高度调节，因此具有一定的局限性，且对于待检测材料的移动不具备坐标标注，在检测时移动待检测材料不够精确，可能会出现重复观测，影响了检测效率，为解决上述问题，因此提出一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装。
<...【技术保护点】
1.一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，包括检测基座(1)和金相显微镜本体(2)，其特征在于，所述金相显微镜本体(2)包括粗同轴调焦块(21)、细同轴调焦块(22)、转轴目镜观察筒(23)、三目接筒(24)、光源灯箱(25)、滤镜卡槽(26)、承载座(27)、物镜转盘(28)、物镜(29)，所述金相显微镜本体(2)的侧端部设置有粗同轴调焦块(21)和细同轴调焦块(22)，所述金相显微镜本体(2)的上段的侧端部设置有转轴目镜观察筒(23)，所述金相显微镜本体(2)的上端部设置有三目接筒(24)，所述金相显微镜本体(2)的上端部设置有光源灯箱(25)，所述金相显微镜本体...
【技术特征摘要】
1.一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，包括检测基座(1)和金相显微镜本体(2)，其特征在于，所述金相显微镜本体(2)包括粗同轴调焦块(21)、细同轴调焦块(22)、转轴目镜观察筒(23)、三目接筒(24)、光源灯箱(25)、滤镜卡槽(26)、承载座(27)、物镜转盘(28)、物镜(29)，所述金相显微镜本体(2)的侧端部设置有粗同轴调焦块(21)和细同轴调焦块(22)，所述金相显微镜本体(2)的上段的侧端部设置有转轴目镜观察筒(23)，所述金相显微镜本体(2)的上端部设置有三目接筒(24)，所述金相显微镜本体(2)的上端部设置有光源灯箱(25)，所述金相显微镜本体(2)的上端部设置有滤镜卡槽(26)，所述金相显微镜本体(2)的上端部设置有承载座(27)，所述承载座(27)的上端部转动安装有物镜转盘(28)，所述物镜转盘(28)的上端部设置有至少两个物镜(29)；
2.如权利要求1所述的一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，其特征在于，所述检测基座(1)的下端部螺纹安装有四个调节柱(11)，所述检测基座(1)中段的上端部固定安装有四个固定块(12)，所述金相显微镜本体(2)中段的下端部固定安装有四个固定块(12)；
3.如权利要求2所述的一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，其特征在于，每个所述固定块(12)的侧端部均转动安装有转动柱(13)，每两个所述转动柱(13)之间均转动安装有铰接块(14)；
4.如权利要求3所述的一种可调节坐标的倒置金相样件检测工装，其特征在于，位于同一侧的两个所述铰接块(14)之间均固定安装有同一个调节块(1...
【专利技术属性】
技术研发人员：汤斌杰，唐晓臣，张艳，冯军，
申请(专利权)人：上海东风汽车专用件有限公司，
类型：新型
国别省市：
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