【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体测试装置,尤其涉及一种ssd半成品自动测试机台。
技术介绍
1、固态硬盘简称ssd,是一种以半导体为主要存储介质、外形和数据传输接口与传统的hdd相同的存储产品,ssd读取数据工作原理是利用特定的磁粒子的极性来记录数据,磁头在读取数据时,将磁粒子的不同极性转换成不同的电脉冲信号,再利用数据转换器将这些原始信号变成电脑可以使用的数据;
2、结合上述内容需要说明的是:传统的ssd测试机台在使用期间,缺乏对ssd半成品本体的区域性升温与降温效率的数据检测,进而导致ssd半成品局部区域受高负荷运作产生高温聚集,致使部分耐热性较低的电子元件使用寿命低于平均寿命,且促使该区域内易发生零件损坏;传统ssd测试机台仅用于单环境状态下进行测试,对ssd半成品的耐热、耐寒和抗造性存在检测缺陷;
3、针对上述的技术缺陷,现提出一种解决方案。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种ssd半成品自动测试机台,是对ssd半成品烧录测试中本体升温和降温相关数据进行实时
...【技术保护点】
1.一种SSD半成品自动测试机台,包括测试机台(1),所述测试机台(1)顶部中心凹陷开设有中心槽(102),所述中心槽(102)底部设置有传动套件(104),其特征在于,所述中心槽(102)一侧底部凹陷设置有积灰槽一(106),且中心槽(102)两端底部凹陷设置有连接积灰槽一(106)的积灰槽二(107),所述传动套件(104)顶部插入套接有中心转轴(7),所述中心转轴(7)中部外壁上环形阵列有多组伸缩气缸臂(705),所述中心转轴(7)底部外壁上滑动套接有隔断垫盘(6);
2.根据权利要求1所述的一种SSD半成品自动测试机台,其特征在于,所述中心槽(10
...【技术特征摘要】
1.一种ssd半成品自动测试机台,包括测试机台(1),所述测试机台(1)顶部中心凹陷开设有中心槽(102),所述中心槽(102)底部设置有传动套件(104),其特征在于,所述中心槽(102)一侧底部凹陷设置有积灰槽一(106),且中心槽(102)两端底部凹陷设置有连接积灰槽一(106)的积灰槽二(107),所述传动套件(104)顶部插入套接有中心转轴(7),所述中心转轴(7)中部外壁上环形阵列有多组伸缩气缸臂(705),所述中心转轴(7)底部外壁上滑动套接有隔断垫盘(6);
2.根据权利要求1所述的一种ssd半成品自动测试机台,其特征在于,所述中心槽(102)两端设置有贯穿测试机台(1)的侧槽(101),所述侧槽(101)底部铰接有翻转封盖(2),所述中心槽(102)一侧底部套接有插入测试机台(1)内部的循环尘箱(5),所述循环尘箱(5)延伸至积灰槽一(106)内部,且循环尘箱(5)顶部设置有多组朝上喷口(501)。
3.根据权利要求2所述的一种ssd半成品自动测试机台,其特征在于,所述积灰槽一(106)顶部架设有多组吸气弧管(105),所述中心槽(102)另一侧底部表面嵌设有多组吸气口(110),所述传动套件(104)外壁上嵌设有靠近吸气口(110)的回转气缸一(103),所述回转气缸一(103)外壁上套接有与中心槽(102)另一侧底部表面滑接的清洁刮板(111),所述积灰槽二(107)靠近吸气口(110)的一侧内壁上设置有多组清洁喷口(108),所述积灰槽二(107)靠近积灰槽一(106)的一侧内壁上安装有电动闸阀(109),且电动闸阀(109)侧边设置有连通积灰槽一(106)和积灰槽二(107)的通口。
4.根据权利要求3所述的一种ssd半成品自动测试机台,其特征在于,所述中心转轴(7)顶部设置有与观察顶罩(4)卡接的定位套(701),所述中心转轴(7)中部外壁表面固定安装有联动轴套(702),所述伸缩气缸臂(705)与联动轴套(702)外壁卡接,多组所述伸缩气缸臂(705)侧壁之间卡接有密封盘(703)。
5.根据权利要求4所述的一种ssd半成品自动测试机台,其特征在于,所述伸缩气缸臂(705)顶部和底部套接有固定法兰(704),所述伸缩气缸臂(705)远离联动轴套(702)的一端顶部套接有夹盘(706),且夹盘(706)底部设置与伸缩气缸臂(705)连接转动的回转气缸...
【专利技术属性】
技术研发人员:涂晶,吕燕玲,唐威,张培栋,
申请(专利权)人:深圳市领德创科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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