【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及材料力学与光谱性质研究领域，特别是涉及一种原子力显微镜-全内反射显微成像与光谱同步测试装置及方法。
技术介绍
1、afm(atomic force microscopy，原子力显微镜)与光学显微技术的结合已经取得了很多飞跃性的进展，有力地推动了各个领域的科学进步，但现有设备大多关注于将afm和荧光显微成像功能相结合，在提升光学成像分辨率、提高成像速度等方面有很多突破性进展，而对同步的光谱采集功能，尤其是对被afm探针操纵的样品所在的局部空间进行原位光谱测试方面仍然缺乏相关技术。而光谱相对于成像而言能提供更多的信息，通过对荧光光谱的峰位或者强度的变动进行解析，有助于理解分子内部结构的变化。通过将原子力显微镜和荧光光谱相结合，可以在afm探针对目标进行操纵的同时，动态获取其内部结构的变化，对纳米尺度下力化学过程的研究具有重要意义。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种原子力显微镜-全内反射显微成像与光谱同步测试装置及方法，既能够进行力学操纵和形貌测量又能同步实现荧光成像和
<本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种原子力显微镜-全内反射显微成像与光谱同步测试装置，其特征在于，装置包括原子力显微镜、光学显微镜、支架组件、合束组件、全内反射激发调节组件、成像光传输组件、反射镜、相机及光谱仪；
2.根据权利要求1所述的原子力显微镜-全内反射显微成像与光谱同步测试装置，其特征在于，所述支架组件包括支架、第一位置调整机构及第二位置调整机构；所述第一位置调整机构及所述第二位置调整机构均与所述支架固定；
3.根据权利要求1所述的原子力显微镜-全内反射显微成像与光谱同步测试装置，其特征在于，所述合束组件包括依次设置的合束部件、空间滤波器及扩束器；
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【技术特征摘要】
1.一种原子力显微镜-全内反射显微成像与光谱同步测试装置，其特征在于，装置包括原子力显微镜、光学显微镜、支架组件、合束组件、全内反射激发调节组件、成像光传输组件、反射镜、相机及光谱仪；
2.根据权利要求1所述的原子力显微镜-全内反射显微成像与光谱同步测试装置，其特征在于，所述支架组件包括支架、第一位置调整机构及第二位置调整机构；所述第一位置调整机构及所述第二位置调整机构均与所述支架固定；
3.根据权利要求1所述的原子力显微镜-全内反射显微成像与光谱同步测试装置，其特征在于，所述合束组件包括依次设置的合束部件、空间滤波器及扩束器；
4.根据权利要求1所述的原子力显微镜-全内反射显微成像与光谱...
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