一种IGBT器件检测装置及其检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种IGBT器件检测装置及其检测方法，包括固定底座和检测罩，所述检测罩固定安装在固定底座的上端外表面，所述固定底座的上端位于检测罩的一侧活动安装有移动底板，所述检测罩的内部活动安装有配合移动底板使用的检测器，所述固定底座的一端外表面固定安装有排料器；所述检测器的内部活动安装有第一卡具、第二卡具和定位插杆，所述第二卡具活动安装在定位插杆的一侧，第一卡具活动安装在定位插杆的另一侧；令其根据所需检测器件体的长宽尺寸及孔位距离进行任意调节，适用不同型号器件体的检测操作，提升其适用范围，代替传统的吸盘或机械臂式分拣结构，可以快速完成对器件体的分拣操作，其结构简单便于维护。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于检测设备技术相关领域，更具体的是一种igbt器件检测装置及其检测方法。

技术介绍

1、该检测装置是一种对igbt器件的体型及规格参数进行检测的一种装置，igbt器件中文名为绝缘栅双极型晶体管，是一种新型复合电力电子器件，igbt由bjt（双极型三极管）和mosfet（绝缘栅型场效应管）组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件，同时拥有mosfet的高输入阻抗和gtr的低导通压降两方面的优点，其结构如图8所示。

2、现有技术cn117406062a的专利文件公开了一种igbt器件芯片焊接的检测装置，包括底座，底座的下端固定连接有多个对称设置的支撑腿，底座通过转动单元与放置框连接，放置框上设置有第一夹持单元，第一夹持单元上设置有第二夹持单元，底座上固定连接有连接杆件，连接杆件的端部固定接有检测器，检测器的端部固定连接有检测头，通过检测器和检测头的设置对芯片的焊接处进行检测，检测其是否合格。

3、上述设备在进行igbt器件检测操作时存在一定的不足，上述检测装置不具有检测调节结构，不同规格的igbt器件其结构大小及孔位距离均有本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种IGBT器件检测装置，其特征在于，包括固定底座（1）和检测罩（7），所述检测罩（7）固定安装在固定底座（1）的上端外表面，所述固定底座（1）的上端位于检测罩（7）的一侧活动安装有移动底板（2），所述检测罩（7）的内部活动安装有配合移动底板（2）使用的检测器（8），所述固定底座（1）的一端外表面固定安装有排料器（4）；所述检测器（8）的内部活动安装有第一卡具（12）、第二卡具（13）和定位插杆（14），所述第二卡具（13）活动安装在定位插杆（14）的一侧，第一卡具（12）活动安装在定位插杆（14）的另一侧；所述排料器（4）的外表面中部设有配合移动底板（2）使用的升降底座（22），且...

【技术特征摘要】

1.一种igbt器件检测装置，其特征在于，包括固定底座（1）和检测罩（7），所述检测罩（7）固定安装在固定底座（1）的上端外表面，所述固定底座（1）的上端位于检测罩（7）的一侧活动安装有移动底板（2），所述检测罩（7）的内部活动安装有配合移动底板（2）使用的检测器（8），所述固定底座（1）的一端外表面固定安装有排料器（4）；所述检测器（8）的内部活动安装有第一卡具（12）、第二卡具（13）和定位插杆（14），所述第二卡具（13）活动安装在定位插杆（14）的一侧，第一卡具（12）活动安装在定位插杆（14）的另一侧；所述排料器（4）的外表面中部设有配合移动底板（2）使用的升降底座（22），且升降底座（22）的上端活动安装有两组斜面顶块（24），所述排料器（4）的内部活动安装有侧旋底板（23）。

2.根据权利要求1所述的一种igbt器件检测装置，其特征在于，所述检测器（8）的上端中部和检测罩（7）之间通过升降推杆（6）驱动，所述检测器（8）和检测罩（7）之间活动套接有四根升降导杆（5），检测器（8）的两侧和检测罩（7）之间通过升降滑块（10）活动对接，所述升降推杆（6）的伸缩端设有感应器（11）。

3.根据权利要求1所述的一种igbt器件检测装置，其特征在于，所述检测器（8）和第一卡具（12）以及检测器（8）和第二卡具（13）之间均通过推扣（9）活动连接，所述第一卡具（12）和第二卡具（13）的一侧均活动安装有移动卡板（15）。

4.根据权利要求1所述的一种igbt器件检测装置，其特征在于，所述定位插杆（14）和检测器（8）之间通过滑动块（31）活动连接，所述定位插杆（14...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄晓波，彭世对，
申请(专利权)人：深圳市福斯特半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：