一种用于延迟校准的电流采样电路制造技术

本申请提供一种用于延迟校准的电流采样电路，该电路包括：栅源驱动模块、开关管、电压采样模块、单刀双掷开关及电流采样模块，栅源驱动模块基于电源电压和脉冲信号产生驱动信号，将驱动信号作用于开关管，对开关管进行通断操作；电压采样模块与开关管相接，对电阻的两端进行电压采样，得到采样电压，电流采样模块接电源电压和单刀双掷开关，基于单刀双掷开关的连接状态选择对应的采样支路对同一回路的开关管的电流进行采样，得到采样电流，可通过多条支路进行电流采样，采样结果可靠性高且采样成本更低，适合广泛使用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子电路检测领域，具体涉及一种用于延迟校准的电流采样电路。

技术介绍

1、在电子电路中，开关管作为常用的器件之一，开关管的性能、稳定性和可靠性关乎后续使用电路的相关性能，因此检测开关管的开通损耗、关断损耗、开关时间等参数是非常重要的环节，在对开关管进行测试时，因探头存在技术差异，会导致不同的时间延迟，若电压信号和电路信号不同步，检测结果会产生误差，无法准确检测开关管的参数。在相关技术中，通过不同型号校准板测量电流，但校准板的电路复杂导致成本较高，校准板的电压电流信号太小(电压5v以内，电流100ma左右)，容易被噪声淹没，因此误差比较大，且在测试时，通常只通过一个器件测量电流，在该器件异常时，无法快速切换到其他检测通道，降低检测效率。

2、因此，如何提供一种可靠性高、效率高的延迟校准的电流采样电路，是目前亟需解决的技术问题。

技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术提供一种用于延迟校准的电流采样电路，以解决上述技术问题中的至少之一。

2、为达到上述目的及其本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于延迟校准的电流采样电路，其特征在于，包括栅源驱动模块、开关管、电压采样模块、单刀双掷开关及电流采样模块，所述单刀双掷开关位于所述电压采样模块与所述电流采样模块之间，

2.根据权利要求1所述的用于延迟校准的电流采样电路，其特征在于，所述栅源驱动模块包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、二极管、NMOS管、第一接线端子，所述第一电阻的一端接所述NMOS管的漏极，所述第一电阻的一端还接所述二极管的阳极，所述二极管的阴极接所述第一电阻的另一端，所述NMOS管的漏极接所述第二电阻的一端，所述第二电阻的一端接所述第三电阻的一端，所述第四电阻的一端接所...

【技术特征摘要】

1.一种用于延迟校准的电流采样电路，其特征在于，包括栅源驱动模块、开关管、电压采样模块、单刀双掷开关及电流采样模块，所述单刀双掷开关位于所述电压采样模块与所述电流采样模块之间，

2.根据权利要求1所述的用于延迟校准的电流采样电路，其特征在于，所述栅源驱动模块包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、二极管、nmos管、第一接线端子，所述第一电阻的一端接所述nmos管的漏极，所述第一电阻的一端还接所述二极管的阳极，所述二极管的阴极接所述第一电阻的另一端，所述nmos管的漏极接所述第二电阻的一端，所述第二电阻的一端接所述第三电阻的一端，所述第四电阻的一端接所述第五电阻的一端，所述第四电阻的一端还接所述nmos管的栅极，所述第五电阻的另一端接所述nmos管的源极，所述第五电阻的另一端还接所述第一接线端子的第一引脚，所述第四电阻的另一端接所述第一接线端子的第二引脚，所述第二电阻的一端还接所述第六电阻的一端，所述第六电阻的另一端接所述nmos管的源极，其中，所述第一接线端子接所述脉冲信号，所述第一电阻的另一端接所述电源电压的正极，所述nmos管的源极接所述电源电压的负极，所述第二电阻的另一端和所述第三电阻的另一端分别对外输出所述驱动信号。

3.根据权利要求2所述的用于延迟校准的电流采样电路，其特征在于，所述开关管通过低电平驱动导通，所述开关管的漏极接所述电源电...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈云乔，敖华阳，成亮，张航，简洋，陈苗，周玉凤，程朝霞，
申请(专利权)人：重庆平伟实业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：