【技术实现步骤摘要】
本技术涉及工件转移设备,特别是涉及一种转运机构。
技术介绍
1、芯片的老化测试是通过模拟芯片在高低温环境中受到的各种应力,加快芯片弱点释放时间线。老化板用于为芯片提供测试环境。目前在老化测试设备进行芯片更换时,一般是人工将承载有芯片的老化板从测试设备中拉出,再老化板上的芯片更换后将老化板手动抬起并插入对应的位置,从而完成更换,费时费力,更换效率较低
技术实现思路
1、基于此,有必要针对现有的老化板通过人工抬起费时费力的问题,提供一种方便更换老化板上的芯片,更换效率高的转运机构。
2、一种转运机构,包括:
3、机架;
4、承载组件,用于承载测试件,且沿第一方向可往复移动地设置于所述机架;沿第一方向,所述承载组件具有多个依次间隔布设的转运位置,所述承载组件能够在往复移动过程中经过转运位置;
5、位置检测组件,能够检测移动至所述转运位置的所述承载组件;
6、驱动组件,与所述承载组件连接;及
7、控制器,与所述位置检测组件及所
...【技术保护点】
1.一种转运机构,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的转运机构,其特征在于,所述转运机构还包括用于与所述测试设备对接的对接组件,所述对接组件包括两个对接块,两个所述对接块沿第二方向间隔布设于所述机架,且用于与测试腔的相对两侧内壁相抵靠,两个所述对接块能够相对所述机架沿第二方向调节位置;
3.根据权利要求1所述的转运机构,其特征在于,所述转运机构还包括对接检测组件,所述对接检测组件设置于所述机架,且所述对接检测组件用于检测所述机架相对所述测试设备的位置。
4.根据权利要求1所述的转运机构,其特征在于,所述转运机构还包括到位检测
...【技术特征摘要】
1.一种转运机构,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的转运机构,其特征在于,所述转运机构还包括用于与所述测试设备对接的对接组件,所述对接组件包括两个对接块,两个所述对接块沿第二方向间隔布设于所述机架,且用于与测试腔的相对两侧内壁相抵靠,两个所述对接块能够相对所述机架沿第二方向调节位置;
3.根据权利要求1所述的转运机构,其特征在于,所述转运机构还包括对接检测组件,所述对接检测组件设置于所述机架,且所述对接检测组件用于检测所述机架相对所述测试设备的位置。
4.根据权利要求1所述的转运机构,其特征在于,所述转运机构还包括到位检测组件,所述到位检测组件设置于所述机架,且所述到位检测组件用于检测所述承载组件上的所述测试件是否到位,或者检测所述测试件是否移动至所述测试位。
5.根据权利要求1所述的转运机构,其特征在于,所述转运机构还包括行程检测组件,所述行程检测组件设置于所述机架,且所述行程检测组件用于检测所述承载组件沿第一方向的运动行程。
6.根据权利要求1-5任一项所述的转运机构,其特征在于,所述承载组件包...
【专利技术属性】
技术研发人员:郭友智,张成就,李康海,叶一风,
申请(专利权)人:杭州长川科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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