一种非缓冲型ADC芯片测试系统和测试方法技术方案

本发明专利技术属于芯片测试技术领域，具体涉及一种非缓冲型ADC芯片测试系统和测试方法。一种非缓冲型ADC芯片测试系统，包括ATE测试系统、测试子板和外部仪器；测试子板的模拟信号输入端设计有至少三种输入配置，其中一种为ATE模拟板卡AWG通道，且该ATE模拟板卡AWG通道用于向待测ADC芯片输入第一模拟输入信号；其中一种为信号源模拟通道，该信号源模拟通道用于向待测ADC芯片输入第二模拟输入信号，且信号源模拟通道所在的信号链路中设有信号调理电路和滤波器；另外一种为ATE数字通道，且该ATE数字通道用于向待测ADC芯片模拟输入端输入直流信号。本发明专利技术所提供的非缓冲型ADC芯片测试系统能够对待测ADC芯片进行全面测试，可保障元器件的高可靠性，以及能够减少质量隐患。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于芯片测试，具体涉及一种非缓冲型adc芯片测试系统和测试方法。

技术介绍

1、现代无线接收器设计中，高采样率的模数转换器adc通常用作中频复合调制信号的采样。尤其是基于cmos开关电容的非缓冲型adc芯片，以其低成本和低功耗的特点深受设计者的青睐。但这类adc采用一种直接连接到采样网络非缓冲器的前端设计，因而adc的输入阻抗会随跟踪和保持模式的切换而变化，以及该adc的输入阻抗模拟输入信号频率变化而变化。这大大增加了模拟前端设计的困难，尤其是性能测试需要覆盖不同频率，从而会进一步加大测试开发额难度。

2、非缓冲型adc芯片的全面测试一直是元器件测试开发的难点。基于效率和通用化考虑，元器件的批量产业化测试通常在ate测试系统上完成。当前，针对ate全面测试非缓冲型adc芯片性能参数的研究较少，未有一套科学的测试评估方法。现有的测试未能覆盖全部重要参数指标或工作条件，以至于无法有力保障元器件的质量和可靠性，不能为型号质量保驾护航。

技术实现思路

1、本专利技术目的在于，针对现有非缓冲型ad本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种非缓冲型ADC芯片测试系统，其特征在于：包括ATE测试系统、测试子板和外部仪器；所述测试子板用于承载待测ADC芯片，所述ATE测试系统包括测试头、测试母板和用于指令控制的工作站，所述测试头通过所述测试母板和所述测试子板连接；

2.根据权利要求1所述的非缓冲型ADC芯片测试系统，其特征在于：所述测试子板的时钟信号输入端设计有至少两种输入配置；其中一种通过测试头中数字板卡实现的ATE数字时钟通道，该ATE数字时钟通道用于向待测ADC芯片输入第一时钟信号；另外一种为通过外部仪器实现的信号源时钟通道，该信号源时钟通道用于向待测ADC芯片输入第二时钟信号；</p>

3.根据...

【技术特征摘要】

1.一种非缓冲型adc芯片测试系统，其特征在于：包括ate测试系统、测试子板和外部仪器；所述测试子板用于承载待测adc芯片，所述ate测试系统包括测试头、测试母板和用于指令控制的工作站，所述测试头通过所述测试母板和所述测试子板连接；

2.根据权利要求1所述的非缓冲型adc芯片测试系统，其特征在于：所述测试子板的时钟信号输入端设计有至少两种输入配置；其中一种通过测试头中数字板卡实现的ate数字时钟通道，该ate数字时钟通道用于向待测adc芯片输入第一时钟信号；另外一种为通过外部仪器实现的信号源时钟通道，该信号源时钟通道用于向待测adc芯片输入第二时钟信号；

3.根据权利要求2所述的非缓冲型adc芯片测试系统，其特征在于：在所述ate数字时钟通道作为第一时钟信号的输入通道时，适用于待测adc芯片的静态误差参数和低频下动态参数的测试；

4.根据权利要求3所述的非缓冲型adc芯片测试系统，其特征在于：所述测试头还包括电源板卡，所述电源板卡用于为待测adc芯片提供工作时所需的模拟电源信号和数字电源信号。

5.根据权利要求4所述的非缓冲型adc芯片测试系统，其特征在于：测试子板包括外围电路，所述外围电路根据待测adc芯片在不同频率下的性噪比、无杂散动态范围参数进行设计，且所述外围电路包括低噪声稳压电路和精密基准电...

【专利技术属性】
技术研发人员：张亭亭，廖勇，韦纯进，罗明，余波，吴佩雯，李佳俊，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：