【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体器件的生产设备,特别是涉及一种预温装置。
技术介绍
1、目前,在测试分选设备进行ic(integrated circuit,芯片)测试时会涉及到对ic进行预温,即在ic搬运停放的过程中利用预温装置对其进行提前预温。预温的主要目的是避免在对ic进行测试时ic的初始温度与测试所需的温度相差较大,导致测试时还需等待温度到达生产温度后再进行测试,导致测试时间较长,效率较低。
2、传统地,预温装置利用电加热片对ic进行加热。然而,电加热片内部的电热丝布局局限性较大且均匀性较差,导致电加热片的温度均匀性较差,功率密度较低,从而导致进行预温的ic温度均匀性较差且升温时间较长。
技术实现思路
1、基于此,有必要针对现有技术中预温装置利用电加热片对ic进行加热,电加热片内部的电热丝布局局限性较大,导致电加热片的温度均匀性较差,功率密度较低,从而导致进行预温的ic温度均匀性较差且升温时间较长的问题,提供一种改善上述缺陷的预温装置。
2、一种预温装置,包括:
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【技术保护点】
1.一种预温装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的预温装置,其特征在于,所述电阻层(33)包括印刷成型在所述第一绝缘层(31)上的第一电极线(331)、第二电极线(333)和多个电阻线(335);
3.根据权利要求2所述的预温装置,其特征在于,各个所述电阻线(335)并联在所述第一电极线(331)与所述第二电极线(333)之间。
4.根据权利要求2所述的预温装置,其特征在于,所述加热组件(30)包括至少两个加热单元,每一所述加热单元包括至少两个所述电阻线(335);
5.根据权利要求4所述的预温装置,其特征在
...【技术特征摘要】
1.一种预温装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的预温装置,其特征在于,所述电阻层(33)包括印刷成型在所述第一绝缘层(31)上的第一电极线(331)、第二电极线(333)和多个电阻线(335);
3.根据权利要求2所述的预温装置,其特征在于,各个所述电阻线(335)并联在所述第一电极线(331)与所述第二电极线(333)之间。
4.根据权利要求2所述的预温装置,其特征在于,所述加热组件(30)包括至少两个加热单元,每一所述加热单元包括至少两个所述电阻线(335);
5.根据权利要求4所述的预温装置,其特征在于,至少一个所述加热单元中的所述电阻线(335)为第一电阻线,至少一个所述加热单元中的所述电阻线(335)为第二电阻线,所述第一电阻线与所述第二电阻线彼此交替地布置在所述印刷面(114)上。
6.根据权利要求2所述的预温装置,其特征在于,所述第一电极线(331)具有用于与外部电源的正极电连接的第一连接部(a1),所述第二电极线(33...
【专利技术属性】
技术研发人员:王小磊,胡鹏飞,
申请(专利权)人:杭州长川科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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