【技术实现步骤摘要】
本技术涉及平面测量,特别涉及一种新型激光平面度测量仪。
技术介绍
1、传统平面度测量一般使用拉线,框式水平仪,电子水平仪,自准直仪,激光干涉仪等设备,各有优缺点,总体来说,他们大都是采用直线度的方法,测量若干条线,然后以其中一条线做为基准,通过软件计算出线与线之间的关系。测量比较复杂,而且都是按照矩形的平面度测量进行设计的,对于圆的平面度测量不是很适合。
技术实现思路
1、本技术所需要解决的技术问题在于针对现有平面度测量仪无法快速测量圆的平面度以及无法对多个平面的共面度进行测量的问题而提供一种可以对圆的平面度进行快速测量和能对多个平面的共面度进行测量的新型激光平面度测量仪。
2、为了解决上述技术问题,本技术的新型激光平面度测量仪,其特征在于:包括:
3、一搁置在被测产品的待测平面上的内部装有90度光束转向镜的激光发射器;
4、搁置在被测产品的待测平面上的位置敏感探测器;
5、装有90度光束装向镜的激光发射器将激光光束转90°再平行于被测产品的
...【技术保护点】
1.一种新型激光平面度测量仪,其特征在于:包括:
2.根据权利要求1所述的新型激光平面度测量仪,其特征在于:所述激光发射器垂直于水平方向搁置在被测产品的待测平面上。
3.根据权利要求2所述的新型激光平面度测量仪,其特征在于:所述激光发射器位于圆形被测产品的待测平面中心。
4.根据权利要求1至3任一项所述的新型激光平面度测量仪,其特征在于:在位置敏感探测器内设置有无线信号发射模块,所述无线信号发射模块将所述位置敏感探测器收到的激光信号转换为电信号无线传输至控制终端。
5.根据权利要求4所述的新型激光平面度测量仪,其特征在于
...【技术特征摘要】
1.一种新型激光平面度测量仪,其特征在于:包括:
2.根据权利要求1所述的新型激光平面度测量仪,其特征在于:所述激光发射器垂直于水平方向搁置在被测产品的待测平面上。
3.根据权利要求2所述的新型激光平面度测量仪,其特征在于:所述激光发射器位于圆形被测产品的待测平面中心。
4....
【专利技术属性】
技术研发人员:尉贺龙,朱万宝,朱万满,
申请(专利权)人:上海研润光机科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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