【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于蚀刻液,具体地,涉及一种ito蚀刻液。
技术介绍
1、氧化铟锡(ito)薄膜为透明导电氧化物薄膜,不仅具有高的光学透过率和低的电阻率,还具有较好的耐磨性、较高的硬度,较易被蚀刻的优点,因此,ito薄膜广泛应用于太阳能电池、平板显示等领域。电子器件的基板表面(如显示器件的阵列基板)通常含有带图案的ito膜,利于后续对电子器件进行可控通电。ito图形化,所用方法有干法刻蚀和湿法刻蚀。干法刻蚀 ito薄膜具有图形转化精度高和各向异性好等优点,但所需的设备昂贵、工艺复杂、成本较高、刻蚀速率低,且容易导致光刻胶掩膜炭化、难以去除。湿法刻蚀法可通过丝网绘制复杂图形,其操作简便、刻蚀速率较快、刻蚀后续工艺简单、辅材成本低。
2、目前,cn106479505 a公开了一种用于ito导电薄膜的高精细蚀刻液及其制备方法,重量百分比组成如下:硝酸2~8%,硫酸2~12%,添加剂0.01~2%,余量水,所述添加剂为碱金属盐和有机物的混合物,有机物选用硫脲衍生物、六次甲基四胺、咪唑、苯并三氮唑和2,4,6-三羟基苯甲酸中的任意一种;本专
...【技术保护点】
1.一种ITO蚀刻液,其特征在于,由以下质量分数的原料构成:8~18%无机酸、1~5%钾盐、0.2~0.8%助剂、0.05~0.5%表面活性剂、75~90%去离子水;
2.根据权利要求1所述的一种ITO蚀刻液,其特征在于,步骤S1的3-氯甘油、三羟甲基氨基甲烷、三乙胺和去离子水的用量比为4.2mL:6.5g:11mL:100mL。
3.根据权利要求1所述的一种ITO蚀刻液,其特征在于,步骤S2的中间体1、异噻唑啉酮、三乙胺和DMSO的用量比为7.8g:5.2mL:9.1mL:90mL。
4.根据权利要求1所述的一种ITO蚀刻液,其特
...【技术特征摘要】
1.一种ito蚀刻液,其特征在于,由以下质量分数的原料构成:8~18%无机酸、1~5%钾盐、0.2~0.8%助剂、0.05~0.5%表面活性剂、75~90%去离子水;
2.根据权利要求1所述的一种ito蚀刻液,其特征在于,步骤s1的3-氯甘油、三羟甲基氨基甲烷、三乙胺和去离子水的用量比为4.2ml:6.5g:11ml:100ml。
3.根据权利要求1所述的一种ito蚀刻液,其特征在于,步骤s2的中间体1、异噻唑啉酮、三乙胺和dmso的用量比为7.8g:5.2ml:9.1ml:90ml。
4.根据权利要求1所述的一种ito蚀刻液,其特征在于,步骤s3的2-羟甲基苯并咪唑、丁二酸酐、dmap和氯仿的用量比为9.5g:6.5g:0.68g:140ml。
5.根据权利要求1所述的一种ito蚀刻液,其特征在于,步骤s4的中间体2、中间体3、浓硫酸和dmso的用量比为12.3g:10.5g:0.5ml:200ml。
6.根据权利要求1所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员:王守飞,王维康,何烨谦,黄德新,龚升,
申请(专利权)人:合肥中聚和成电子材料有限公司,
类型:发明
国别省市:
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