【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学元件检测相关,尤其涉及一种用于光学元件检测工作的固定工装。
技术介绍
1、光学元件检测,对各种光学元件进行测量和评估的过程,主要包括检查元件表面的缺陷、划痕、确定元件的尺寸精度、光学性能测试、成像质量评估、干涉法、光谱分析法、显微镜观察等,光学元件检测对于光学系统的成功运行和光学产品的质量控制至关重要,有助于优化光学系统的性能,如提高成像质量、增强光的传输,为生产过程提供反馈,便于调整工艺和控制质量,故此,特别需要一种用于光学元件检测工作的固定工装。
2、但是现有的光学元件检测,在使用过程中,一般的光学元件检测工作的固定工装,因为内部没有调节机构和固定机构,在光学元件检测的过程中,光学元件在没有调节角度的情况下可能会出现影响光学元件检测的现象,增加光学元件的检测时间,降低了光学元件的检测效率,可能会出现不能及时发现和定位可能存在的缺陷、瑕疵或故障的情况发生。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种用于光学元件检测工作的固定工装,以解决上述
技术介绍
中提出 ...
【技术保护点】
1.一种用于光学元件检测工作的固定工装,包括固定底座(1),其特征在于:所述固定底座(1)的一端活动套接有第一螺杆(2),所述固定底座(1)的一端设置有调节机构(3),所述调节机构(3)的另一端设置有固定机构(4);
2.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测工作的固定工装,其特征在于:所述第一螺杆(2)设置为四组,所述支架(305)通过第一连接块(304)、第二螺栓(302)、第一固定块(301)与固定底座(1)转动连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测工作的固定工装,其特征在于:所述支架(305)通过第一拧盖(303)、第二
...【技术特征摘要】
1.一种用于光学元件检测工作的固定工装,包括固定底座(1),其特征在于:所述固定底座(1)的一端活动套接有第一螺杆(2),所述固定底座(1)的一端设置有调节机构(3),所述调节机构(3)的另一端设置有固定机构(4);
2.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测工作的固定工装,其特征在于:所述第一螺杆(2)设置为四组,所述支架(305)通过第一连接块(304)、第二螺栓(302)、第一固定块(301)与固定底座(1)转动连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测工作的固定工装,其特征在于:所述支架(305)通过第一拧盖(303)、第二螺栓(302)、第一固定块(301)与固定底座(1)固定连接,所述第一固定板(312)通过第二固定块(311)、第三螺栓(308)、第一滑动槽(306)与支架(305)滑动连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测工作的固定工装,其特征在于:所述第一固定板(312)通过第二拧盖(309)、第三螺栓(308)、第一滑动块(310)、第二固定块(311)与支架(305)固定连接,所述第二拧盖(309)与第一滑动块(310)活动套接。
5.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测工作的固定工装,其特征在于:所述第二固定块(311)设置为两组,所述定位柱(314)设置为四组。
6.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检测工作的固定工装,其特征在于:所述第五螺栓(317)设置为四组。
7.根据权利要求1所述的一种用于光学元件检...
【专利技术属性】
技术研发人员:周月生,文永海,文永福,
申请(专利权)人:昆山富恩通精密模具有限公司,
类型:发明
国别省市:
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