当前位置: 首页 > 专利查询>天津大学专利>正文

时域太赫兹信号的光斑成像装置及成像方法制造方法及图纸

技术编号:42218610 阅读:35 留言:0更新日期:2024-07-30 18:58
一种时域太赫兹信号的光斑成像装置及成像方法,该光斑成像装置包括:发射机构,适用于发射探测太赫兹信号;标准具,被构造为包括n级台阶,每级台阶包括垂直的第一面和第二面;探测太赫兹信号的至少一部分沿着第一方向穿过标准具,第一方向为垂直于第一面的方向,探测太赫兹信号穿过m级台阶后,得到m个按时序出射的子太赫兹信号,m≤n;计算机构,适用于发出移动信号;位移台,适用于在移动信号的作用下驱动标准具移动;采集机构,适用于分别对标准具在不同位置时得到的子太赫兹信号进行采集。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及激光光斑测量仪器特别涉及时域太赫兹信号的光斑成像装置及成像方法


技术介绍

1、太赫兹频段处于微波和红外波之间,在长波段与毫米波相重合,在短波段与红外波相重合,被称为亚毫米波段,属于宏观经典理论与微观量子理论的过渡区,也是电子学和光子学的过渡区,带宽范围较大,一些材料在这个频段具有特殊的性质。太赫兹频段的一个重要特征便是光子能量较低,对于人体和环境没有伤害,使得太赫兹技术在检测、医学、通信、材料等领域具有广泛的应用前景。同时太赫兹光斑的图像可以提供与其他频段图像相互补的信息,太赫兹光斑的图像成像技术的应用也具有着重要意义。

2、可以利用激光光斑的测量方式对太赫兹光斑的图像进行成像,常用的测量方法有刀口法、套孔法、二维阵列成像法等。但是,在实际应用中,刀口法和套孔法测量得到的光斑分辨率较低,且需要多次操作过程繁琐。二维阵列成像法则受制于相应阵列成像器件的发展,难以直接成像测量或测量结果无法满足需要。现有的基于电光晶体的二维电光采样成像方式也存在着不能直接测量大尺寸太赫兹光束和测量装置复杂等问题。


技术实现本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种时域太赫兹信号的光斑成像装置,包括:

2.根据权利要求1所述的光斑成像装置,其中,所述预设步长等于所述台阶高度的1/a;

3.根据权利要求1所述的光斑成像装置,其中,

4.根据权利要求2所述的光斑成像装置,其中,所述发射机构包括:

5.根据权利要求4所述的光斑成像装置,其中,所述采集机构包括:

6.根据权利要求5所述的光斑成像装置,其中,所述第二准直单元与所述第一聚焦单元共焦设置;

7.根据权利要求5所述的光斑成像装置,其中,所述计算机构还适用于根据所述标准具移动到所有位置时所探测到的子太赫兹信号得到太赫兹光...

【技术特征摘要】

1.一种时域太赫兹信号的光斑成像装置,包括:

2.根据权利要求1所述的光斑成像装置,其中,所述预设步长等于所述台阶高度的1/a;

3.根据权利要求1所述的光斑成像装置,其中,

4.根据权利要求2所述的光斑成像装置,其中,所述发射机构包括:

5.根据权利要求4所述的光斑成像装置,其中,所述采集机构包括:

6.根据权利要求5所述的光斑成像装置,其中,所述第二准直单元与所述第一聚焦单元共焦设置;

...

【专利技术属性】
技术研发人员:钟凯刘鹏宇格根塔娜李方杰池静李吉宁王与烨徐德刚姚建铨
申请(专利权)人:天津大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1