【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于测试治具的，尤其涉及一种精密阻值测试治具以及精密阻值测试方法。
技术介绍
1、阻抗是表征电子元器件、电子电路和元件材料的一个很重要的参数，而在电子产品设计企业和电子产品生产企业，为了确保所采用电子元器件、电子电路设计和元件材料在电子产品上能够稳定发挥该有的性能，通常都会采用阻值测试治具进行对电子产品上的电子元器件、电子电路设计和元件材料进行阻抗测试，以获得阻抗数据进行分析。
2、而在常规的阻值测试治具通过都会把与测试元件导电的探针的阻抗一同加入测试，又或对阻值测试治上的探针更换非原厂的探针后未进行校正，从而导致探针自身阻抗影响测试元件阻抗测试的精准度。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种精密阻值测试治具以及精密阻值测试方法，以解决
技术介绍
所述的技术问题。
2、所述一种精密阻值测试治具包括机座和测试仪，机座上设置有用于放置测试元件的载具，机座上安装有升降驱动模组，升降驱动模组驱动有位于载具上方的下压块，下压块安装有测试单元，测试单元设置有至少两...
【技术保护点】
1.一种精密阻值测试治具，其包括机座(1)和测试仪，所述机座(1)上设置有用于放置测试元件(5)的载具(2)，所述机座(1)上安装有升降驱动模组(11)，所述升降驱动模组(11)驱动有位于所述载具(2)上方的下压块(12)，其特征在于：所述下压块(12)安装有测试单元(31)，所述测试单元(31)设置有至少两组测试针组(32)，每一所述测试针组(32)均有至少两个用于同时与所述测试元件(5)的一导电端(51)接触的一体式刚性针(33)，同一测试针组(32)内的两个所述一体式刚性针(33)互不接触，每一所述一体式刚性针(33)均与所述测试仪电性连接，所述测试仪可用于将同...
【技术特征摘要】
1.一种精密阻值测试治具，其包括机座(1)和测试仪，所述机座(1)上设置有用于放置测试元件(5)的载具(2)，所述机座(1)上安装有升降驱动模组(11)，所述升降驱动模组(11)驱动有位于所述载具(2)上方的下压块(12)，其特征在于：所述下压块(12)安装有测试单元(31)，所述测试单元(31)设置有至少两组测试针组(32)，每一所述测试针组(32)均有至少两个用于同时与所述测试元件(5)的一导电端(51)接触的一体式刚性针(33)，同一测试针组(32)内的两个所述一体式刚性针(33)互不接触，每一所述一体式刚性针(33)均与所述测试仪电性连接，所述测试仪可用于将同时与所述测试元件(5)一导电端(51)接触的所述一体式刚性针(33)的阻值抵消两个所述测试针组(32)与所述测试元件(5)接触所获的阻值。
2.根据权利要求1所述的一种精密阻值测试治具，其特征在于：每一所述测试针组(32)内的一体式刚性针(33)为相同规格。
3.根据权利要求2所述的一种精密阻值测试治具，其特征在于：所述测试单元(31)包括探针固定块(41)和元件固定块(42)，所述探针固定块(41)固定于所述下压块(12)，所述一体式刚性针(33)固定于所述探针固定块(41)上并活动地穿过所述元件固定块(42)，所述元件固定块(42...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶文森，
申请(专利权)人：珠海博杰电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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