【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于测试治具的，尤其涉及一种精密阻值测试治具以及精密阻值测试方法。
技术介绍
1、阻抗是表征电子元器件、电子电路和元件材料的一个很重要的参数，而在电子产品设计企业和电子产品生产企业，为了确保所采用电子元器件、电子电路设计和元件材料在电子产品上能够稳定发挥该有的性能，通常都会采用阻值测试治具进行对电子产品上的电子元器件、电子电路设计和元件材料进行阻抗测试，以获得阻抗数据进行分析。
2、而在常规的阻值测试治具通过都会把与测试元件导电的探针的阻抗一同加入测试，又或对阻值测试治上的探针更换非原厂的探针后未进行校正，从而导致探针自身阻抗影响测试元件阻抗测试的精准度。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种精密阻值测试治具以及精密阻值测试方法，以解决
技术介绍
所述的技术问题。
2、所述一种精密阻值测试治具包括机座和测试仪，机座上设置有用于放置测试元件的载具，机座上安装有升降驱动模组，升降驱动模组驱动有位于载具上方的下压块，下压块安装有测试单元，测试单元设置有至少两组测试针组，每一测试针组均有至少两个同一规格且用于同时与测试元件的一导电端接触的一体式刚性针，同一测试针组内的两个一体式刚性针互不接触，每一所述一体式刚性针均与测试仪电性连接，测试仪可用于将同时与测试元件一导电端接触的一体式刚性针之间的阻值抵消两个测试针组与测试元件接触所获的阻抗。
3、根据所述技术方案，以使所述精密阻值测试治具以下有益效果：
4、1、通过在与测试元件接触的
5、2、通过一体式线针替代弹簧针及粗表笔，从而实现能够测试更小更密的元件，同时，由于一体式的设计，能够使探针与测试元件接触时保持稳定的抗阻；
6、为了进一步优化以上技术方案，在不冲突的情况下，可选与以下一个或多个实施方式进行结合。
7、在一些实施方式中，每一所述测试针组内的一体式刚性针为相同规格；根据所述技术方案，以使所述精密阻值测试治具进一步地实现以下有益效果：
8、每一测试针组通过设置相同规格的一体式刚性针，从而实现进一步地降低阻抗测试误差。
9、在一些实施方式中，每一测试针组均为相同规格；根据所述技术方案，以使所述精密阻值测试治具进一步地实现以下有益效果：
10、在每一测试针组与测试元件接触获取阻值时，能够进一步地降低阻抗测试误差。
11、在一些实施方式中，测试单元包括探针固定块和元件固定块，探针固定块固定于下压块，一体式刚性针固定于探针固定块上并活动地穿过元件固定块，元件固定块安装有活动地穿过下压块的下压导柱；根据所述技术方案，以使所述精密阻值测试治具进一步地实现以下有益效果：
12、1、在下压块带动测试单元下降时，通过元件固定块预先给予测试元件下压固定，以使一体式刚性针能够精准和稳定地与测试元件接触；
13、2、元件固定块下压至测试元件上后，测试元件推动元件固定块上升，使一体式刚性针穿过元件固定块与测试元件接触，因此，实现在一体式刚性针不与测试元件接触时，元件固定块与能够有效地保护一体式刚性针。
14、在一些实施方式中，测试元件固定块与下压块之间设置有缓冲弹簧；根据所述技术方案，以使所述精密阻值测试治具进一步地实现以下有益效果：
15、1、在元件固定块下压至测试元件上时，能够通过弹簧缓冲元件固定块与测试元件接触时的撞击力和减缓元件固定块的下压力度，从而对测试元件进行保护；
16、2、由于采用一体式刚性针，从而导致一体式刚性针不具备弹性缓冲，因此，在一体式刚性针与测试元件接触时，能够对一体式刚性针测试一定的保护效果。
17、在一些实施方式中，机座安装有下压滑轨，下压块安装有与下压滑轨配合的下压滑块；根据所述技术方案，以使所述精密阻值测试治具进一步地实现以下有益效果：以使升降驱动模组能够更稳定地驱动下压块升降。
18、在一些实施方式中，机座安装有用于驱动载具移离下压块下方的出料驱动模组；根据所述技术方案，以使所述精密阻值测试治具进一步地实现以下有益效果：
19、在将测试元件放置于载具内后，通过出料驱动模组驱动载具移动至下压块下方，在完成对测试元件测试后，通过出料驱动模组驱动载具移离下压块下方，从而实现便于对测试元件进出料。
20、在一些实施方式中，机座安装有出料滑轨，载具安装有与出料滑轨配合的出料滑块；根据所述技术方案，以使所述精密阻值测试治具进一步地实现以下有益效果：以使出料驱动模组能够更稳定地驱动载具移动。
21、在一些实施方式中，载具设有定位孔，下压块安装有可进入定位孔内的定位柱；根据所述技术方案，以使所述精密阻值测试治具进一步地实现以下有益效果：
22、在升降驱动模组驱动下压块下降时，定位柱进入定位孔内，从而使一体式刚性针能够精准地与测试元件的一导电端接触。
23、所述一种精密阻值测试方法，其应用于以上所述的精密阻值测试治具，其包括以下步骤：
24、步骤一、通过至少两组测试针组分别地与测试元件的导电端接触，测试针组与测试元件的一导电端接触时，每一测试针组内的两个同一规格的一体式刚性针同时与测试元件的一导电端接触，测试仪通过同一组测试针组内的两个一体式刚性针与测试元件的一导电端接触而获得的阻值a，也即获得每一测试针组各自的阻值a；
25、步骤二a、测试仪通过两组测试针组与测试元件连接后获得的阻值b；
26、步骤三a、通过将阻值b减去所有阻值a的二分之一，从而获得测试元件的阻抗，公式如下：阻值b-[（所有测试针组的阻值a）/2]=测试元件的阻抗。
27、根据所述技术方案，所述精密阻值测试方法实现以下有益效果：
28、通过利用测试仪获得同一组测试针组内的两个一体式刚性针的阻值a，并将该阻值a抵消通过两组测试针组与测试元件连接后获得的阻值b，从而实现能够精准地测试所述测试元件的抗阻，同时，在对所述精密阻值测试治具更换新的一体式刚性针后，也不会因一体式刚性针自身阻抗影响测试元件阻抗测试的精准度，且测试精度能够达到 mω级别。
29、一种精密阻值测试方法在一些实施方式中，步骤二a替换为步骤二b，步骤三a替换为步骤三b；
30、其中，步骤二b、测试仪通过第一组测试针组的其中一个一体式刚性针和第二组测试针组的其中一个一体式刚性本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种精密阻值测试治具，其包括机座(1)和测试仪，所述机座(1)上设置有用于放置测试元件(5)的载具(2)，所述机座(1)上安装有升降驱动模组(11)，所述升降驱动模组(11)驱动有位于所述载具(2)上方的下压块(12)，其特征在于：所述下压块(12)安装有测试单元(31)，所述测试单元(31)设置有至少两组测试针组(32)，每一所述测试针组(32)均有至少两个用于同时与所述测试元件(5)的一导电端(51)接触的一体式刚性针(33)，同一测试针组(32)内的两个所述一体式刚性针(33)互不接触，每一所述一体式刚性针(33)均与所述测试仪电性连接，所述测试仪可用于将同时与所述测试元件(5)一导电端(51)接触的所述一体式刚性针(33)的阻值抵消两个所述测试针组(32)与所述测试元件(5)接触所获的阻值。
2.根据权利要求1所述的一种精密阻值测试治具，其特征在于：每一所述测试针组(32)内的一体式刚性针(33)为相同规格。
3.根据权利要求2所述的一种精密阻值测试治具，其特征在于：所述测试单元(31)包括探针固定块(41)和元件固定块(42)，所述探针固定块
4.根据权利要求3所述的一种精密阻值测试治具，其特征在于：所述元件固定块(42)与所述下压块(12)之间设置有缓冲弹簧(44)。
5.根据权利要求2所述的一种精密阻值测试治具，其特征在于：所述机座(1)安装有下压滑轨(13)，所述下压块(12)安装有与所述下压滑轨(13)配合的下压滑块(14)。
6.根据权利要求5所述的一种精密阻值测试治具，其特征在于：所述机座(1)安装有用于驱动所述载具(2)移离所述下压块(12)下方的出料驱动模组(21)。
7.根据权利要求6所述的一种精密阻值测试治具，其特征在于：所述机座(1)安装有出料滑轨(22)，所述载具(2)安装有与所述出料滑轨(22)配合的出料滑块(23)。
8.根据权利要求7所述的一种精密阻值测试治具，其特征在于：所述载具(2)设有定位孔(24)，所述下压块(12)安装有可进入所述定位孔(24)内的定位柱(15)。
9.一种精密阻值测试方法，其应用于权利要求2至8任意一项所述的精密阻值测试治具，其特征在于，包括以下步骤：
10.根据权利要求9所述的精密阻值测试方法，其特征在于：所述步骤二A替换为步骤二B，所述步骤三A替换为步骤三B；
...【技术特征摘要】
1.一种精密阻值测试治具，其包括机座(1)和测试仪，所述机座(1)上设置有用于放置测试元件(5)的载具(2)，所述机座(1)上安装有升降驱动模组(11)，所述升降驱动模组(11)驱动有位于所述载具(2)上方的下压块(12)，其特征在于：所述下压块(12)安装有测试单元(31)，所述测试单元(31)设置有至少两组测试针组(32)，每一所述测试针组(32)均有至少两个用于同时与所述测试元件(5)的一导电端(51)接触的一体式刚性针(33)，同一测试针组(32)内的两个所述一体式刚性针(33)互不接触，每一所述一体式刚性针(33)均与所述测试仪电性连接，所述测试仪可用于将同时与所述测试元件(5)一导电端(51)接触的所述一体式刚性针(33)的阻值抵消两个所述测试针组(32)与所述测试元件(5)接触所获的阻值。
2.根据权利要求1所述的一种精密阻值测试治具，其特征在于：每一所述测试针组(32)内的一体式刚性针(33)为相同规格。
3.根据权利要求2所述的一种精密阻值测试治具，其特征在于：所述测试单元(31)包括探针固定块(41)和元件固定块(42)，所述探针固定块(41)固定于所述下压块(12)，所述一体式刚性针(33)固定于所述探针固定块(41)上并活动地穿过所述元件固定块(42)，所述元件固定块(42...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶文森，
申请(专利权)人：珠海博杰电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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