【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学测量，尤其涉及相位偏折术测量系统标定方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、相位偏折术是一项非接触式的高反射率曲面测量技术。通过计算物体三维形貌对条纹图案的相位调制，来获取物体的三维表面高度信息。相位偏折术目前已广泛应用至诸多工业领域，如汽车漆面检测。
2、相位偏折术测量系统的标定，指标定相机与显示器的相对位置，是相位偏折术的关键步骤。标定的精确度，决定了相位偏折术测量系统的测量精确度。相位偏折术测量系统中，显示器并不在相机的视野中，需要利用标准平面镜进行反射，使显示器的镜面反射虚像在相机的视野内，利用相机与显示器虚像的位置关系、相机与平面镜的位置关系，计算出相机与显示器的位置关系。由于无法精确得到标准平面镜的准确位置，对于某一固定的显示器虚像，可能有多种解，相位偏折术测量系统的标定存在多义性。
3、现有的相位偏折术测量系统的标定方法，需要特殊设计的装置。一方面，相位偏折术测量系统标定装置的设计与制造存在误差，影响标定精度。另一方面，相位偏折术测量系统标定装置的制造成本较高，且往往仅针对于某...
【技术保护点】
1.相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，所述获取多个标定图像数据包括：
3.根据权利要求2所述相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，所述设置实验环境包括：
4.据权利要求2所述相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，所述设置标定板位置包括：
5.根据权利要求1所述相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，所述根据所述标定图像数据进行矩阵转换，得到相机与显示器的变换矩阵初值包括：
6.根据权利要求1所述相位偏折术测量系统标定方法，其特征在...
【技术特征摘要】
1.相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，所述获取多个标定图像数据包括：
3.根据权利要求2所述相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，所述设置实验环境包括：
4.据权利要求2所述相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，所述设置标定板位置包括：
5.根据权利要求1所述相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，所述根据所述标定图像数据进行矩阵转换，得到相机与显示器的变换矩阵初值包括：
6.根据权利要求1所述相位偏折术测量系统标定方法，其特征在于，所述根据所述相机与显示器...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑道勤，雷汝霖，王侃，周福江，邱庆明，
申请(专利权)人：重庆中科摇橹船信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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