半导体器件制造技术

技术编号:42175964 阅读:23 留言:0更新日期:2024-07-27 00:23
本申请实施例公开了一种半导体器件,半导体器件包括了芯片、介质薄膜、RDL线路层和外层电路,芯片嵌入到介质薄膜之内,然后在介质薄膜上进行RDL线路层制作,使芯片PAD与RDL线路层形成互连,再通过增层的方式来制作其余所需的外层电路,完成整电路制作的同时,芯片也完成了封装,基于此将介质薄膜作为封装基板,采用嵌入的方式固定芯片。这样可以大幅节省封装基板表面空间,从而使封装后的半导体器件的尺寸大幅降低,使得本申请实施例提供的半导体器件在高密度芯片的I/O接口扇出方面,可以采用半导体封装技术做到线宽/线距在10um/10um的设计,这样可以进一步节省封装基板表面空间,从而使封装后的半导体器件尺寸大幅降低。

【技术实现步骤摘要】

本申请实施例涉及半导体,尤其涉及一种半导体器件


技术介绍

1、自集成电路器件的封装从单个组件的开发,进入到多个组件的集成后,随着产品效能的提升以及对轻薄和低耗需求的带动下,迈向封装整合的新阶段。在此发展方向的引导下,形成了电子产业上相关的两大新主流:系统单芯片soc(system on chip)与系统化封装sip(systemin packag)。

2、由于摩尔定律的优势越来越难以实现,成本也越来越高,全球半导体产业界正致力于寻找后摩尔定律时代的突破口。美国半导体行业协会(sia)于2015年宣布停止更新itrs(国际半导体技术路线图),接力棒交给了异构集成路线图(hir,于2019年10月发布),其焦点集中在系统级封装(sip)以及未来10年至15年的发展方向:3d、3d互连和晶圆级封装。

3、sip是从封装的立场出发,对不同芯片进行并排或叠加的封装方式,将多个具有不同功能的有源电子元件与可选无源器件,以及诸如mems或者光学器件等其他器件优先组装到一起,实现一定功能的单个标准封装件。

4、sip封装技术采取多种裸本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体器件,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求4所述的半导体器件,其特征在于,所述背面线路层包括:

6.根据权利要求1至5中任一项所述的半导体器件,其特征在于,

7.根据权利要求1至5中任一项所述的半导体器件,其特征在于,

8.根据权利要求1至5中任一项所述的半导体器件,其特征在于,

9.根据权利要求1至5中任一...

【技术特征摘要】

1.一种半导体器件,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求4所述的半导体器件,其特征在于,所述背面线路层包括:

6.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯雪王波魏瑀滕乙超阳俊航刘洋洋
申请(专利权)人:浙江清华柔性电子技术研究院
类型:新型
国别省市:

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