一种基于配准的高光谱异常检测方法技术

技术编号:42167015 阅读:22 留言:0更新日期:2024-07-27 00:14
本发明专利技术公开了一种基于配准的高光谱异常检测方法,包括:对高光谱图像数据进行数据增强,并提取增强后的高光谱数据的特征矩阵,包括局部源矩阵、全局源矩阵和目标矩阵;将全局源矩阵、局部源矩阵分别与目标矩阵进行一阶空间点云配准操作,分别获取两种高光谱数据像素点度量值,即局部像素点相似度值、全局像素点相似度值;通过得到的局部和全局像素点相似度值对高光谱图像进行异常检测,得到全局检测结果图及局部检测结果图,并将全局与局部检测结果图进行融合,得出最终异常检测结果。本发明专利技术通过点云配准操作对高光谱异常检测进行求解,提高了高光谱异常目标检测精度,在同等条件下降低了虚警率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种基于配准的高光谱异常检测方法,属于高光谱图像异常检测。


技术介绍

1、与传统的遥感技术不同,高光谱成像技术能够同时提供地物的辐射、几何和光谱信息。高光谱图像具有几乎连续的光谱信息,能够细致区分地物的光谱差异,因此在各个领域得到了广泛应用。目标检测作为高光谱图像处理中的一个重要研究方向,根据是否需要先验信息,可分为光谱匹配检测和异常检测。光谱匹配检测依赖于目标光谱信号的先验信息,而异常检测则不需要任何关于目标的先验信息,基于光谱差异发现异常目标。在实际应用中,获取目标光谱的先验信息常常具有挑战性。因此,异常检测因其实用性已成为高光谱图像处理中的一项重要工作。

2、高光谱图像中的“异常”通常指具有不同于周围像元光谱特征的小目标。识别这类目标的一种直接方法是计算背景的均值,并将离均值最远的像素定义为异常。这种方法基于统计学,依赖于对背景数据分布的严格假设。然而,由于高光谱图像的复杂性和非线性,这些假设往往不成立。为了解决这个问题,一些方法致力于构建与真实数据分布尽可能一致的背景统计模型,而另一些方法则利用机器学习技术进行异常检测,无本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于配准的高光谱异常检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于配准的高光谱异常检测方法,其特征在于,所述步骤1中的数据增强是对原始高光谱图像进行镜像翻转操作,具体过程如下:

3.根据权利要求1所述的基于配准的高光谱异常检测方法,其特征在于,所述步骤2中,提取增强后的高光谱图像中每个像素点的特征矩阵的具体过程如下:

4.根据权利要求1所述的基于配准的高光谱异常检测方法,其特征在于,所述步骤3中,将每个像素点的局部源矩阵、全局源矩阵分别与目标矩阵进行一阶空间点云配准操作,得到局部像素点相似度值和全局像素点相似度值,具体过程如...

【技术特征摘要】

1.一种基于配准的高光谱异常检测方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的基于配准的高光谱异常检测方法,其特征在于,所述步骤1中的数据增强是对原始高光谱图像进行镜像翻转操作,具体过程如下:

3.根据权利要求1所述的基于配准的高光谱异常检测方法,其特征在于,所述步骤2中,提取增强后的高光谱图像中每个像素点的特征矩阵的具体过程如下:

4.根据权利要求1所述的基于配准的高光谱异常检测方法,其特征在于,所述步骤3中,将每个像素点的局部源矩阵、全局源矩阵分别与目标矩阵进行一阶空间点云配准操作,得到局部像素点相似度...

【专利技术属性】
技术研发人员:涂兵陈开元刘博陈云云曹兆楼
申请(专利权)人:南京信息工程大学
类型:发明
国别省市:

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