【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试电路领域,尤其是一种芯片电流的限制电路。
技术介绍
1、目前,硅晶圆分割制成芯片之后需要对其质量进行筛选,在其筛选过程中,根据筛选的要求不同分为三个等级:原装的(original)、白片(good die)、黑片(ink die) 。而黑片又分为以下几种:无id、ff 、es品。再加上芯片在封装工艺过程中造成的各种原因,或是晶圆内部暗裂、金线绑线异常等等原因,会导致芯片的输出电流过高,测试时容易烧毁测试座、损坏线路板。目前市场上的芯片,使用的限流大都是用usb限流ic进行测试,此方式限流值大和如果碰到短路的芯片时由于usb限流ic自恢复慢、电脑容易出现卡死现象。
技术实现思路
1、本技术的目的是提供一种芯片电流的限制电路,能够筛选出芯片电流高于限流值的芯片,避免流入下一级,从而避免因芯片输出电流过高导致的烧毁测试座和线路板的问题。
2、为了解决上述技术问题,本技术的技术方案如下:
3、一种芯片电流的限制电路,其特征在于:包括usb接头、usb 限流
...【技术保护点】
1.一种芯片电流的限制电路,其特征在于:包括USB接头、USB 限流IC模块、芯片检测主控模块、电压转换及电压选择模块、被测芯片测试座;其中,
2.根据权利要求1所述的芯片电流的限制电路,其特征在于:所述USB 限流IC模块串联在芯片检测主控模块与电压转换及电压选择模块之间;
3.根据权利要求1或2所述的芯片电流的限制电路,其特征在于:所述限流电阻模块包括电压取样电阻、比较器、MOS开关、LED指示灯、限流电阻,所述比较器的一端与限流电阻相连,另一端与电压取样电阻相连,LED指示灯的一端通过稳压模块与比较器相连,LED指示灯的另一端与MOS开关相连。
【技术特征摘要】
1.一种芯片电流的限制电路,其特征在于:包括usb接头、usb 限流ic模块、芯片检测主控模块、电压转换及电压选择模块、被测芯片测试座;其中,
2.根据权利要求1所述的芯片电流的限制电路,其特征在于:所述usb 限流ic模块串联在芯片检测主控模块与电压转换及电压选择模块之间;<...
【专利技术属性】
技术研发人员:张治强,陈宝纯,卢冠华,杨新元,
申请(专利权)人:湖北长润半导体科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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