【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及三维测量，尤其是涉及一种圆柱体表面纹理及三维形貌测量方法和装置。
技术介绍
1、三维测量技术在航空航天、精密加工、智能制造等领域都有广泛的应用，其中，光学三维测量技术以前沿的光学、电子学及计算机图像处理技术为依托，实现了对物体表面形状与轮廓的高精度、快速、非接触测量。这种技术不仅在科研领域取得了显著的成果，还广泛应用到工业生产的各个环节，为提升国家工业生产水平、推动智能制造的快速发展提供了强有力的技术支撑。
2、对于圆柱体目标的光学三维形貌精密检测，特别是圆柱体内壁的光学三维形貌精密检测，常用的方法包括线激光、双相机立体视觉和结构光方法，上述方案存在以下问题：
3、线激光三维检测技术利用三角测距法，通过精确计算发射激光光斑与反射激光光斑之间的位置差异，从而获取物体的三维形貌数据。这种方法在应用中存在一些局限性，线激光存在遮挡只能测深度较小的孔，且无法实现360°全角度检测。
4、双相机立体视觉通过同一物体在两个相机中的图像位置差异，结合相机空间坐标，还原物体三维形貌。此方法需要两个相机存...
【技术保护点】
1.一种圆柱体表面纹理及三维形貌测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种圆柱体表面纹理及三维形貌测量方法，其特征在于，所述光学显微成像模组通过快速自动对焦算法，将物平面定位到待测圆柱体样品的表面；然后根据待测圆柱体样品的表面起伏程度，确定光学显微成像模组的物平面距离电动转台转轴中心的扫描范围；所述快速自动对焦算法包括以下步骤：
3.根据权利要求1所述的一种圆柱体表面纹理及三维形貌测量方法，其特征在于，所述纹理信息的处理过程包括以下步骤：
4.根据权利要求1所述的一种圆柱体表面纹理及三维形貌测量方法，其特征在...
【技术特征摘要】
1.一种圆柱体表面纹理及三维形貌测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种圆柱体表面纹理及三维形貌测量方法，其特征在于，所述光学显微成像模组通过快速自动对焦算法，将物平面定位到待测圆柱体样品的表面；然后根据待测圆柱体样品的表面起伏程度，确定光学显微成像模组的物平面距离电动转台转轴中心的扫描范围；所述快速自动对焦算法包括以下步骤：
3.根据权利要求1所述的一种圆柱体表面纹理及三维形貌测量方法，其特征在于，所述纹理信息的处理过程包括以下步骤：
4.根据权利要求1所述的一种圆柱体表面纹理及三维形貌测量方法，其特征在于，所述三维形貌数据的处理过程包括以下步骤：
5.根据权利要求3或4所述的一种圆柱体表面纹理及三维形貌测量方法，其特征在于，所述显著度评价函数基于灰度方差函数、空间频率函数或修正拉普拉斯和函数进行计算，所述灰度方差函数的计算表达式为：
6.根据权利要求1所述的一种圆柱体表面纹理及三维形貌测量方法，其特征在...
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