半导体装置及其制造方法制造方法及图纸

技术编号:42111190 阅读:26 留言:0更新日期:2024-07-25 00:33
本发明专利技术公开一种半导体装置及其制造方法,其中该半导体装置包括第一电极、第一隔离结构、第二电极、半导体结构、栅介电层以及栅极。第一隔离结构位于第一电极的顶面之上。第二电极位于第一隔离结构之上。半导体结构包括接触第一电极的顶面的第一导电区、接触第一隔离结构的第一侧壁的第一通道区以及接触第二电极的第二导电区。栅介电层位于半导体结构上,且具有开口。栅极位于栅介电层上,并填入开口中,以通过第一导电区电连接至第一电极。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种半导体装置及其制造方法


技术介绍

1、目前,一般的薄膜晶体管通常使用非晶硅半导体作为通道材料。由于非晶硅半导体制作工艺简单、成本低廉,因此被广泛应用于各种薄膜晶体管中。然而,随着显示技术的不断进步,显示面板的分辨率也不断提升。为了缩小像素电路中薄膜晶体管的尺寸,众多制造商正致力于研发具有更高载流子迁移率的半导体材料,其中包括金属氧化物半导体材料。

2、这些新型半导体材料的研发旨在提升薄膜晶体管的性能,进而增强显示器件的整体效能。金属氧化物半导体材料具有卓越的电子迁移率,能够应对不断提升的分辨率需求。因此,制造商利用金属氧化物半导体以实现更小、更高效的像素配置,同时确保显示品质的持续提升。这也推动了半导体材料领域的技术创新和制作工艺改进。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种半导体装置及其制造方法,所述半导体装置具有占地面积小的优点。

2、本专利技术的至少一实施例提供一种半导体装置,其包括第一电极、第一隔离结构、第二电极、半导体结构、栅介电层以及栅极。第一电极位于基板本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体装置,包括:

2.如权利要求1所述的半导体装置,其中该第一隔离结构包括暴露出该第一侧壁的第一通孔,其中该第一通孔重叠于该第一电极,且该半导体结构填入该第一通孔中。

3.如权利要求1所述的半导体装置,还包括:

4.如权利要求3所述的半导体装置,其中该第一隔离结构包括具有该第一侧壁的第一通孔,其中该绝缘结构覆盖部分的该第一通孔。

5.如权利要求1所述的半导体装置,还包括:

6.如权利要求5所述的半导体装置,还包括:

7.一种半导体装置的制造方法,包括:

8.如权利要求7所述的制造方法,其中形成该...

【技术特征摘要】

1.一种半导体装置,包括:

2.如权利要求1所述的半导体装置,其中该第一隔离结构包括暴露出该第一侧壁的第一通孔,其中该第一通孔重叠于该第一电极,且该半导体结构填入该第一通孔中。

3.如权利要求1所述的半导体装置,还包括:

4.如权利要求3所述的半导体装置,其中该第一隔离结构包括具有该第一侧壁的第一通孔,其中该绝缘结构覆盖部分的该第一通孔。

5...

【专利技术属性】
技术研发人员:范扬顺
申请(专利权)人:友达光电股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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