【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及异种材料连接,尤其涉及一种碳化硅与散热铜板的低温连接方法。
技术介绍
1、碳化硅(sic)陶瓷具有热膨胀系数小、抗氧化性强、热导率大、耐磨性能好、热稳定性好等优良特性,被广泛应用在航空航天、核能、机械、微电子等领域。而且由于sic陶瓷具有较高的热导率,且热膨胀系数(cte)与si等半导体芯片匹配好,常作为功率器件中陶瓷封装材料,在电子封装领域有着广泛的应用需求。在电子封装实际应用中,为满足导通和散热要求,通常需要将sic陶瓷与散热铜板或者覆铜陶瓷(dbc)基板进行连接。而为了避免高温连接造成某些功率器件损伤,需实现sic与cu衬底的低温可靠连接。因此,开发一种可靠的碳化硅与散热铜板的低温连接技术具有重要意义。
2、目前生产上用于sic与cu连接的方法主要有活性钎料法和mo-mn法。活性钎料法也称直接钎焊法,一般是将活性元素或稀土元素(ti、al、zr、cr、in等)引入传统焊料中进行钎焊,而为了激发元素的活性通常需要较高的温度。目前最常用的agcuti钎料,焊接温度为880℃-960℃。mo-mn法是陶瓷金属化
...【技术保护点】
1.一种碳化硅与散热铜板的低温连接方法,其特征在于,所述方法是先对SiC表面进行预处理除杂,之后对预处理后的SiC表面进行溅射Cr、Ag两层金属膜的金属化处理,最后采用SnCu或SnAg共晶焊料,将金属化处理后的SiC与铜板装配后进行真空钎焊;其中,SiC表面金属化处理时,SiC基体的温度加热至100~200℃;钎焊的温度为250~280℃,保温时间5~10min。
2.根据权利要求1所述碳化硅与散热铜板的低温连接方法,其特征在于,所述预处理除杂的方法是采用机械打磨的方式去除SiC和Cu板表面的氧化层及杂质,之后经超声清洗去除表面污渍。
3.根
...【技术特征摘要】
1.一种碳化硅与散热铜板的低温连接方法,其特征在于,所述方法是先对sic表面进行预处理除杂,之后对预处理后的sic表面进行溅射cr、ag两层金属膜的金属化处理,最后采用sncu或snag共晶焊料,将金属化处理后的sic与铜板装配后进行真空钎焊;其中,sic表面金属化处理时,sic基体的温度加热至100~200℃;钎焊的温度为250~280℃,保温时间5~10min。
2.根据权利要求1所述碳化硅与散热铜板的低温连接方法,其特征在于,所述预处理除杂的方法是采用机械打磨的方式去除sic和cu板表面的氧化层及杂质,之后经超声清洗去除表面污渍。
3.根据权利要求1所述碳化硅与散热铜板的低温连接方法,其特征在于,所述sic表面金属化处理采用的工作气体为20~50ml/min的纯度99.99%的氩气,溅射真空度为0.3~0.6pa,溅射功率为100~200w,溅射时间为10~60min。
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