【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电磁散射反演领域，具体涉及一种弱散射体的定量衍射断层扫描方法及系统。
技术介绍
1、电磁逆散射问题，即电磁反演问题，是基于目标散射场的信息计算得到目标的相对介电常数并反演出目标的特征。反演技术已在医疗成像、穿墙雷达等诸多领域得到了广泛的应用。
2、但目前为止，如何有效的解决反演计算的可靠性和计算效率仍然是一个挑战。常用的方法包括各种非线性迭代方法、深度学习方法和线性化方法。其中，基于已知确定和随机的非线性迭代方法取得了较好的结果，但是仍然存在巨大的计算量的问题。此外，基于神经网络的深度学习技术被大家越来越关注，例如中国专利公开号cn114255293a公开的一种基于深度学习求解高度非线性逆散射问题的快速成像方法，虽然可以提高精度和效率，但因泛化能力较差而没有得到很好的应用。衍射断层扫描(diffraction tomography,dt)是求解电磁反演问题的一种线性方法，而且能够计算出可检索的信息内容与测量配置之间的关系，这对反演系统涉及具有重要的意义。
3、在弱散射假设的基础上，某一特定频率下的对...
【技术保护点】
1.一种弱散射体的定量衍射断层扫描方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种弱散射体的定量衍射断层扫描方法，其特征在于，所述步骤1中构建反演计算数学模型，包括：
3.根据权利要求2所述的一种弱散射体的定量衍射断层扫描混叠修正方法，其特征在于，所述步骤2包括：
4.根据权利要求3所述的一种弱散射体的定量衍射断层扫描方法，其特征在于，所述步骤3包括：
5.一种弱散射体的定量衍射断层扫描系统，其特征在于，包括：
6.根据权利要求5所述的一种弱散射体的定量衍射断层扫描系统，其特征在于，所述模型构建...
【技术特征摘要】
1.一种弱散射体的定量衍射断层扫描方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种弱散射体的定量衍射断层扫描方法，其特征在于，所述步骤1中构建反演计算数学模型，包括：
3.根据权利要求2所述的一种弱散射体的定量衍射断层扫描混叠修正方法，其特征在于，所述步骤2包括：
4.根据权利要求3所述的一种弱散射体的定量衍射断层扫描方法，其特征在于，所述步骤3包括：
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