一种与DIC集成应用的多系统标定方法技术方案

一种与DIC集成应用的多系统标定方法，包括：搭建由DIC、投影仪、测量系统组成的联合检测环境；开启投影仪，投影一张覆盖检测区域尺寸的图片；在每个散斑投影图像处位置安装一个标准测量件；微调散斑投影图像，使其能覆盖标准测量件标记点，且全部位于斜面与上底面区域；启动DIC，拍摄一张包括n个标准测量件的检测区图；利用图像相关算法计算得到标准测量件标记点坐标；将得到n个标记点坐标的集合，记为点集M；关闭投影仪，启动测量系统测量上述n个标准测量件标记点坐标，得到点集N；得到的标记点点集M、N，计算得到DIC与测量系统坐标系转换矩阵，即完成DIC集成应用的多系统标定。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学测量领域，涉及一种与dic集成应用的多系统标定方法。

技术介绍

1、数字图像相关检测仪(dic)具有测量精度高、速度快、量程大、非接触特点，在测形变、应变等动态测量中不可替代。三坐标测量仪、三维扫描仪、三维拍照测量仪等设备在产品外形几何尺寸中有各自应用对象，均静态测量，不能检测全域所有点的形变、应变。将数字图像相关检测仪与它们结合起来使用能发挥各自优势，同时测量产品静态的几何量和动态变形量，有许多应用场景，如卫星天线高低温轮廓度变形检测、复合材料支撑结构力学试验、超薄弱刚性材料大变形展收试验等。在这些应用中，首先要解决多系统标定问题，即统一多系统的坐标系问题。当前常用方法是贴靶标点方式。将多个靶标点贴在产品或地面、操作台等设施上。多类测量系统分别精确测量靶标点的三维空间坐标，再通过靶标点对应拟合计算，求出这几类测量系统的坐标转换关系，即旋转矩阵r、平移矩阵t。这种方法频操作繁琐、效率低，应用场景有限，仅适合三维扫描仪、三维拍照测量仪这类光学测量设备，对于三坐标测量仪这类接触式测量设备，难以测量出靶标点准确位置，标定误差大，难以满足应用需求本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种与DIC集成应用的多系统标定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述DIC与测量系统检测范围为水平操作台的相同区域，DIC、投影仪搭设在操作台正上方，测量系统自由摆放。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量系统包括三坐标测量仪、三维扫描仪、三维拍照测量仪中的一种或多种。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述散斑图案为计算机模拟生成的黑白数字散斑图，单个散斑颗粒直径范围为3～5个像素，散斑占空比40％～60％，散斑无重叠随机分布；所述散斑图案边缘用白色粗线标识，大小为投影图片尺寸的1/20～...

【技术特征摘要】

1.一种与dic集成应用的多系统标定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述dic与测量系统检测范围为水平操作台的相同区域，dic、投影仪搭设在操作台正上方，测量系统自由摆放。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量系统包括三坐标测量仪、三维扫描仪、三维拍照测量仪中的一种或多种。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述散斑图案为计算机模拟生成的黑白数字散斑图，单个散斑颗粒直径范围为3～5个像素，散斑占空比40％～60％，散斑无重叠随机分布；所述散斑图案边缘用白色粗线标识，大小为投影图片尺寸的1/20～1/10。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述n不小于4。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述微调散斑投影图像，具体为调整投影仪高度，使散斑投影图像大小为标准测量件...

【专利技术属性】
技术研发人员：周勇，杨凤龙，刘丽霞，钟俊杰，邵珩，王彬，王凯，张风光，高红军，吴琼，牛海瑞，
申请(专利权)人：北京卫星制造厂有限公司，
类型：发明
国别省市：