【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本说明书总体涉及x射线扫描系统，更具体地，涉及单独准直器或多个准直器中的每个准直器相对于多个检测器元件中的相关检测器元件的定位和定向。
技术介绍
1、为了产生射线照相图像，除了对所产生的x射线束敏感的检测器阵列之外，还需要用于产生x射线束的x射线辐射源。在透射扫描系统中，需要成像的物体穿过辐射源和检测器阵列之间，并衰减x射线束，在检测器阵列上观察到的信号中产生对比。在该简单模型中的所有点处，都会出现散射的x射线，这对于这种形式的透射成像是不期望的。散射的x射线会产生背景噪声，这会使检测器阵列上的真实x射线信号失真，并降低成像所需的对比度。散射减少是通过使用准直来实现的，准直可以各种方式来实现，以遮挡辐射源处的部分x射线束或屏蔽部分检测系统，从而防止散射光子到达检测器。
2、如图1a所示，为了便于机械操作，大规模扫描系统通常具有布置成倒置l形的多个检测器，其中检测器105竖直布置，检测器110水平布置。x射线源102被定位和准直成使得它可以产生入射在竖直检测器105和水平检测器110上的扇形束112。在竖直和水平检测器装置内，...
【技术保护点】
1.一种适于检测从辐射源发射的辐射的检测器阵列，包括：
2.根据权利要求1所述的检测器阵列，其中，所述多个准直器中的每个从多个检测器元件中的所述一个的后侧延伸，以物理接触所述壳体的第二侧。
3.根据权利要求1所述的检测器阵列，其中，所述多个检测器元件中的每个具有长度，并且其中，所述多个准直器中的每个位于处于多个检测器元件中的相应一个的长度的一半处的点处。
4.根据权利要求1所述的检测器阵列，其中，所述多个检测器元件的每个准直器垂直于多个检测器元件中的相应一个的后侧定向。
5.根据权利要求1所述的检测器阵列，其中，所述多个...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种适于检测从辐射源发射的辐射的检测器阵列，包括：
2.根据权利要求1所述的检测器阵列，其中，所述多个准直器中的每个从多个检测器元件中的所述一个的后侧延伸，以物理接触所述壳体的第二侧。
3.根据权利要求1所述的检测器阵列，其中，所述多个检测器元件中的每个具有长度，并且其中，所述多个准直器中的每个位于处于多个检测器元件中的相应一个的长度的一半处的点处。
4.根据权利要求1所述的检测器阵列，其中，所述多个检测器元件的每个准直器垂直于多个检测器元件中的相应一个的后侧定向。
5.根据权利要求1所述的检测器阵列，其中，所述多个准直器中的每个具有宽度，其中，从所述辐射源发射的辐射是具有厚度的x射线束，并且其中，所述宽度在x射线束的所述厚度的10％到100％的范围内。
6.根据权利要求1所述的检测器装置，其中，所述多个准直器中的每个具有在2mm到5mm的范围内的宽度。
7.一种用于扫描物体的检测系统，包括：
8.根据权利要求7所述的检测系统，其中，所述多个检测器元件布置成锯齿形布置。
9.根据权利要求7所述的检测系统，其中，所述多个检测器元件中的每个基本朝向所述x射线源倾斜，用于限制所述x射线束的视差检测。
10.根据权利要求7所述的检测系统，其中，所述多个检测器元件中的每个基本朝向所述x射线源倾斜，使得多个检测器元件中的每个的中心轴线直接与x射线源对准。
11.根据权利要求7所述的检测系统，其中，所述多个检测器...
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