检测待检测样本的前带现象的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及检测待检测样本的前带现象的方法和装置。方法包括步骤：获取待检测样本的吸光度随时间变化的反应曲线；计算反应曲线的相对残差均值；确定相对残差均值是否小于参考值；当确定出相对残差均值大于或等于参考值时，确定出待检测样本中存在前带现象。本发明专利技术利用相对残差均值能够确定出前带现象，从而避免检测出现假阴性的结果，因此提高分析结果的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测，尤其涉及一种检测待检测样本的前带现象的方法和装置。

技术介绍

1、在使用免疫方法测量样本中被测抗原抗体浓度时，经常出现抗原过量问题，由此产生的状况称为前带现象。前带现象表现为：在恒定剂量的抗体溶液中加入不同浓度抗原时，吸光度随着抗原浓度升高而上升，但当抗原达到一定浓度以上时产生吸光度不增加反而下降的现象。例如，抗原浓度为z1时检测到吸光度x，但在高浓度区域的抗原浓度z2下由于产生前带现象而仅仅检测到与吸光度x相同程度的甚至下降的吸光度。因此，虽然样本中的实际抗原浓度为高浓度但表观上被判断为不存在或低浓度，这样的前带现象常常产生抗原浓度测量值偏低的假阴性的结果，给测量带来很大干扰。因此，如何检测出样本是否为具有前带现象的高浓度抗原样本显得尤为重要。

2、上述对
技术介绍
的陈述仅是为了方便对本专利技术技术方案(使用的技术手段、解决的技术问题以及产生的技术效果等方面)的深入理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该消息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路>

1、本专利技本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种检测待检测样本的前带现象的方法，其包括步骤：

2.根据权利要求1所述的检测待检测样本的前带现象的方法，其中，计算反应曲线的相对残差均值的步骤包括：

3.一种检测待检测样本的前带现象的装置，其包括：

【技术特征摘要】

1.一种检测待检测样本的前带现象的方法，其包括步骤：

2.根据权利要求1所述的检测待检测样本的前带现象...

【专利技术属性】
技术研发人员：庄献民，潘旱霖，刘希，张宜，李晓舟，蔡华雅，赵瀛，潘诚，
申请(专利权)人：北京九强生物技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：