【技术实现步骤摘要】
本申请属于红外材料晶粒尺寸测试，具体涉及一种晶粒尺寸的测试方法。
技术介绍
1、因为化学气相沉积方法合成红外材料基本不存在杂质吸收，而且散射损失也极低，故目前用于制备光学器件的红外材料通常采用化学气相沉积合成。对于合成的红外材料来说，红外材料中晶粒的大小在一定程度上会影响材料的光学性能。为了更好的控制晶粒尺寸的大小，除了优化制备方法，晶粒尺寸的测试也非常关键。
2、现有的晶粒尺寸测试方式通常先取样，然后对样品进行镶嵌，镶嵌之后对样品进行研磨抛光，接下来对样品进行俯视清洗，最后对样品进行显微分析即可。现有的测试方式中需要对样品进行镶嵌，步骤较为繁琐，影响测试效率。
技术实现思路
1、本申请要解决的技术问题在于：提供一种提高测试效率的晶粒尺寸的测试方法。
2、本申请提出的技术方案为：
3、一种晶粒尺寸的测试方法，包括步骤：
4、s110，制备取样料，并对取样料进行研磨抛光；
5、s120，在抛光区域套取样品；
6、s130...
【技术保护点】
1.一种晶粒尺寸的测试方法，其特征在于，包括步骤：
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，步骤S110包括：
3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，在步骤S112和步骤S114之间还包括步骤：
4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，在步骤S113中，上表面的平磨面积占上表面的85%以上。
5.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，在步骤S114中，经研磨抛光后的抛光区域表面无划痕，表面光洁度为60/40。
6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，步骤S120包括：
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