【技术实现步骤摘要】
本技术属于半导体封装,特别涉及一种具有电磁屏蔽结构的晶圆、芯片以及半导体封装结构。
技术介绍
1、电磁干扰(emi)历来是让电子产品设计工程师们头疼的一个问题,它威胁着电子设备的安全性、可靠性和稳定性。因此,在设计电子产品时,需要对电子系统制作电磁屏蔽层,使芯片受到的电磁干扰控制在一定的范围内,达到设计要求和标准,提高电路的整体性能。
2、现有技术中一般是通过内部金属罩、引线键合(wire bond)垂直打线或镭射开槽填导电银浆及溅射金属层等方式与外部的屏蔽(shielding)层相连实现屏蔽功能。在此过程中,需要使用专用机台将切割后的单颗芯片翻转后贴装在单面耐高温pi膜或者双面耐高温胶膜上,在完成溅射后需要使用专用机台将产品从耐高温胶膜上取下。该工艺过程中涉及的设备及辅助材料和治具成本较高,而且单颗芯片作业有很高的溢镀风险,影响后续封装产品的良率。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种具有电磁屏蔽结构的晶圆,直接针对晶圆上的每个芯片设置电磁屏蔽结构,切割后形成单颗具有电
...【技术保护点】
1.具有电磁屏蔽结构的晶圆,所述晶圆上包括多个芯片,两两所述芯片之间设有切割道,其特征在于,在所述晶圆正面的切割道上设置凹槽,所述凹槽合围在每个芯片四周,所述凹槽设在切割道上,所述凹槽内设有金属部;所述金属部上表面与凹槽上表面平齐,或者所述金属部上表面高于凹槽上表面;所述晶圆背面设有金属层,所述金属部连接金属层,对每个芯片形成电磁屏蔽结构。
2.根据权利要求1所述的一种具有电磁屏蔽结构的晶圆,其特征在于,所述凹槽的宽度为300-1000um,深度为100-300um。
3.根据权利要求2所述的一种具有电磁屏蔽结构的晶圆,其特征在于,所述芯片正面
...【技术特征摘要】
1.具有电磁屏蔽结构的晶圆,所述晶圆上包括多个芯片,两两所述芯片之间设有切割道,其特征在于,在所述晶圆正面的切割道上设置凹槽,所述凹槽合围在每个芯片四周,所述凹槽设在切割道上,所述凹槽内设有金属部;所述金属部上表面与凹槽上表面平齐,或者所述金属部上表面高于凹槽上表面;所述晶圆背面设有金属层,所述金属部连接金属层,对每个芯片形成电磁屏蔽结构。
2.根据权利要求1所述的一种具有电磁屏蔽结构的晶圆,其特征在于,所述凹槽的宽度为300-1000um,...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈晗玥,
申请(专利权)人:江苏芯德半导体科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。