【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光学测试工装，具体涉及一种双晶体俯仰角和平行度的辅助检测系统。
技术介绍
1、在光学仪器领域，调节晶体的俯仰角度或者调整双晶体之间的相对平行度和俯仰角度是非常重要的。晶体的准确调节对光学仪器的性能和精度有重要影响。对于多晶体系统，需要同时调节多晶体的平行度和俯仰角，尤其是对于不同间距的双晶体器件，需要检测系统具有通用性。
2、现有技术中的调节方法通常只能调节单一晶体器件或者固定间距的双晶体器件，无法适用不同间距尺寸的双晶体器件，效率低且准确度难以保证。
3、现有技术的解决方案：现有技术中常用的调节方法是通过辅助手段使用螺丝或其他可调节的装置来改变晶体的位置和角度。这种方法通常只能针对单晶体器件或者固定间距双晶体器件。
4、现有技术存在的问题：由于调节装置通常只能适应特定形状和间距的晶体，对于不同间距的双晶器件，现有技术难以适应，具有一定的局限性和不足之处，存在调节准确度低、调节效率低以及适应性差等问题。因此，有必要提供一种可以更加方便准确的调节器件晶体的俯仰角度，或者不同间距双晶体器件晶体的...
【技术保护点】
1.一种双晶体俯仰角和平行度的辅助检测系统，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的双晶体俯仰角和平行度的辅助检测系统，其特征在于，进一步包括校准板安装座，以及安装在校准板安装座上的校准板；所述校准板安装座相对升降台，设置在远离第一基座的一侧。
3.如权利要求1所述的双晶体俯仰角和平行度的辅助检测系统，其特征在于，所述通光孔为水平方向设置的长条孔。
4.如权利要求1或3所述的双晶体俯仰角和平行度的辅助检测系统，其特征在于，所述基准刻度板上设置有水平刻度，以及竖直刻度。
5.如权利要求4所述的双晶体俯仰角和平行度的辅助检...
【技术特征摘要】
1.一种双晶体俯仰角和平行度的辅助检测系统，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的双晶体俯仰角和平行度的辅助检测系统，其特征在于，进一步包括校准板安装座，以及安装在校准板安装座上的校准板；所述校准板安装座相对升降台，设置在远离第一基座的一侧。
3.如权利要求1所述的双晶体俯仰角和平行度的辅助检测系统，其特征在于，所述通光孔为水平方向设置的长条孔。
4.如权利要求1或3所述的双晶体俯仰角和平行度的辅助检测系统，其特征在于，所述基准刻度板上设置有水平刻度，以及竖直刻度。
5.如权利要求4所述的双晶体俯仰角和平行度的辅助检测系统，其特征在于，所述水平刻度包括两段，分别设置在通光孔的两侧。
6.如权利要求4所述的双晶体俯仰角和平行度的辅助检测系统，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘开超，刘杰，王世武，
申请(专利权)人：青岛海泰光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。