闪存资料稳定度的检测方法和检测系统技术方案

本申请公开了一种闪存资料稳定度的检测方法和检测系统，所述检测方法包括步骤：从所有闪存块按照预设规则选取预设数量的页，作为待判断页；选择当前页开始读取；若读取到闪存块内当前页的数据错误值大于等于预设的门坎值，则搬移对应的闪存块内的所有页的数据，若读取到闪存块内当前页的的数据错误值小于预设的门坎值，则继续读取预设数量的页中的未被去读的其他待判断页；其中，所述预设数量的数量值小于闪存块内的总页数的数量值。本申请通过减少读取的页的数量，减少读取检查的时间，尽可能在早期快速检查出不稳定的数据，避免在忙碌阶段且同时需要检查数据，影响效能及稳定性，或因推迟检查时机，导致数据无法修复的风险。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及闪存芯片的检测领域，尤其涉及一种闪存资料稳定度的检测方法和检测系统。

技术介绍

1、目前市场上nand闪存类型分为slc、mlc、tlc三种类型。其中slc(single-levelcell)，在1个存储器储存单元(cell)中存放1个位(bit)的资料；mlc(multi-level cell)，在1个存储器储存单元(cell)中存放2个位(bit)的资料；而tlc(trinary-level cell)，在1个存储器储存单元(cell)中存放3个位(bit)的资料，稳定性最差。

2、当闪存介质中的电子泄漏导致cell电压值偏移低于特定临界值，将无法可靠地读取数据bit，导致读取出的数据部分bit错误，数据因长时间老化而遗失的过程，称为dataretention现象，为了避免data retention现象发生，储存装置运行过程中需要定期检查闪存内所有闪存块(block)保存的已写入数据。每次检查需要读取每个block的每个页(page)，需要大量的时间读取资料，若储存装置处于忙碌阶段且同时需要检查数据，会影响效能及稳定性，且推迟检本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种闪存资料稳定度的检测方法，其特征在于，包括步骤：

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S1包括：

3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述闪存块包括快页和慢页，所述慢页的数据稳定性值小于快页的数据稳定性值，所述步骤S21中包括：

4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S1包括：

5.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S1包括：

6.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述闪存块包括快页和慢页，所述慢页的数据稳定性值小于快页的数据稳定性值，所述步骤S1包括：

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【技术特征摘要】

1.一种闪存资料稳定度的检测方法，其特征在于，包括步骤：

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤s1包括：

3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述闪存块包括快页和慢页，所述慢页的数据稳定性值小于快页的数据稳定性值，所述步骤s21中包括：

4.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤s1包括：

5.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤s1包括：

6.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述闪存块包括快页和慢页，所述慢页的数据稳定性值小于快页的数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：王昭凯，
申请(专利权)人：深圳市时创意电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：