基于残差U-net的快速比吸收率测量方法技术

本发明专利技术一种基于残差U‑net的快速比吸收率测量方法，包括在快速SAR测量系统的电场测量空间中，建立多个重构平面电场E<subgt;rec</subgt;的步骤；然后，基于残差U‑Net神经网络模型，以多个重构平面电场E<subgt;rec</subgt;中距离辐射源最近的重构平面为近源平面，近源平面上的电场为近源平面电场E<subgt;near</subgt;，建立测量平面电场E<subgt;mea</subgt;到近源平面电场E<subgt;near</subgt;映射关系的残差U‑Net神经网络模型，得到模型预测的最优近源平面电场E<subgt;near</subgt;的步骤；最后，基于平面波展开法，由步骤二得到的近源平面电场E<subgt;near</subgt;计算任一重构平面电场E<subgt;rec</subgt;，进而计算多个重构平面电场得到所述测量空间比吸收率SAR值的步骤。本发明专利技术方法显著提升了SAR测量效率、稳定性和精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及生物电磁学领域，尤其涉及快速sar的测量方法。

技术介绍

1、在射频电磁场环境下，为评估人体从电磁场中吸收的能量，我们需要对比吸收率(specific absorption rate，sar)进行精确测量，以判断人体所受电磁辐射的影响。sar值的计算基于人体组织模拟液(3)的电导率、质量密度及电场强度。在已知前两者信息的前提下，获取人体组织模拟液(3)内的电场强度成为估算sar值的关键步骤。当前，基于不同的电场强度获取方式，sar测量技术可分为两大类：完整sar测量与快速sar测量。

2、完整sar测量，例如由蒋科等人在论文《人体暴露于射频电磁场欧盟标准及检测方法》中提到的系统，由区域扫描(粗扫描)和局部扫描(细扫描)两个步骤构成。区域粗扫描使用单一探针沿步长稍大的空间网格测量模拟液内的电场，目的是找到最大sar值所处的大致区域。局部细扫描：在粗扫描找到的局部最大sar值所在区域中进行更高密度的电场强度采样。基于扫描得到的数据，通过插值算法，获得满足空间分辨率要求的电场强度分布，从而计算出最大sar值。虽然完整sar测量的测试结果本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于残差U-net的快速比吸收率测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.如权利要求1所述的基于残差U-net的快速比吸收率测量方法，其特征在于，所述的步骤一具体为：

3.如权利要求1所述的基于残差U-net的快速比吸收率测量方法，其特征在于，所述的步骤二具体为：

4.如权利要求3所述的基于残差U-net的快速比吸收率测量方法，其特征在于，所述的步骤21)具体为：

5.如权利要求3所述的基于残差U-net的快速比吸收率测量方法，其特征在于，所述的步骤22)具体为，将所述测量平面电场Emea根据所述的分量表示为：</p>

6.如权...

【技术特征摘要】

1.一种基于残差u-net的快速比吸收率测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.如权利要求1所述的基于残差u-net的快速比吸收率测量方法，其特征在于，所述的步骤一具体为：

3.如权利要求1所述的基于残差u-net的快速比吸收率测量方法，其特征在于，所述的步骤二具体为：

4.如权利要求3所述的基于残差u-net的快速比吸收率测量方法，其特征在于，所述的步骤21)具体为：

5.如权利要求3所述的基于残差u-net的快速比吸收率测量方法，其特征在于，所述的步骤22)具体为，将所述测量平面电场emea根据所述的分量表示为：

6.如权利要求3所述的基于残差u-net的快速比吸收率测量方法，其特征在于，所述的步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘自成，肖瑞杰，曹苗，王士龙，
申请(专利权)人：西北工业大学，
类型：发明
国别省市：