真空包接触电阻的测量装置以及测量方法制造方法及图纸

技术编号:41976963 阅读:32 留言:0更新日期:2024-07-12 12:09
本申请涉及一种真空包接触电阻的测量装置以及测量方法,用于设置在真空断路器上以测量真空包接触电阻,真空包接触电阻的测量装置包括连接组件和按压机构。连接组件包括动导电杆和静导电杆,动导电杆和静导电杆同轴设置,静导电杆的上端部连接于静触头并固定连接于真空断路器,动导电杆的下端部连接于动触头。按压机构用于设置在真空断路器上,按压机构连接于动导电杆的上端部,按压机构设置为沿动导电杆的轴向移动。在按压机构的持续下压下直至动触头与静触头之间的按压力达到测量条件所需的按压力,按压机构直接与动导电杆相连省去了额外设置的工装,且静触头不与按压机构相连,仅动触头与按压机构相连,减少了连接点,能够有效保持连接稳定。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及真空断路器,特别是涉及真空包接触电阻的测量装置以及测量方法


技术介绍

1、真空包是一种广泛应用于电子器件中的组件,而接触电阻是衡量真空包性能的重要指标之一。由于真空包内电极间存在虚接,导致在不施加外部压力的情况下,测得的真空包接触电阻值与实际值相比偏小。因此为了提高真空包接触电阻值的测量准确性,通常在真空包两端施加5500~7500n的压力,使得动触头和静触头之间紧密贴合,以提高测量准确性。

2、通常真空包接触电阻的测量方式是通过压力试验机等压力装置对动触头和静触头施加外力进行测量,此种方式在测量时需要额外添置压力试验机,测量成本高,且需要在压力试验机上单独设置与真空包相匹配的工装,使用复杂且工装难以保证压力试验机按压真空包时能保持紧固和稳定,容易在按压过程中引起真空包的晃动,影响按压效果,导致真空包内动触头和静触头接触不稳定的情况。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对真空包接触电阻的测量装置的测量成本高、使用复杂、按压不稳定的问题,提供一种真空包接触电阻的测量装置以及测量方法。...

【技术保护点】

1.一种真空包接触电阻的测量装置,用于设置在真空断路器上以测量真空包接触电阻,所述真空断路器包括所述真空包、动触头和静触头,所述动触头和所述静触头设置在所述真空包内,所述真空包接触电阻为所述动触头和所述静触头相抵接时的接触电阻,其特征在于,所述真空包接触电阻的测量装置包括:

2.根据权利要求1所述的真空包接触电阻的测量装置,其特征在于,所述按压机构包括导电座和压杆,所述导电座连接于所述动导电杆的上端部,所述压杆的下端部与所述导电座背向于所述动导电杆的一侧相连接,所述压杆设置为沿所述动导电杆的轴向移动。

3.根据权利要求2所述的真空包接触电阻的测量装置,其特征在于,...

【技术特征摘要】

1.一种真空包接触电阻的测量装置,用于设置在真空断路器上以测量真空包接触电阻,所述真空断路器包括所述真空包、动触头和静触头,所述动触头和所述静触头设置在所述真空包内,所述真空包接触电阻为所述动触头和所述静触头相抵接时的接触电阻,其特征在于,所述真空包接触电阻的测量装置包括:

2.根据权利要求1所述的真空包接触电阻的测量装置,其特征在于,所述按压机构包括导电座和压杆,所述导电座连接于所述动导电杆的上端部,所述压杆的下端部与所述导电座背向于所述动导电杆的一侧相连接,所述压杆设置为沿所述动导电杆的轴向移动。

3.根据权利要求2所述的真空包接触电阻的测量装置,其特征在于,所述按压机构还包括缓冲机构,所述导电座的上端部通过所述缓冲机构与所述压杆的下端部相连接,所述缓冲机构设置为所述压杆沿所述动导电杆的轴向下压所述导电座时给所述导电座提供抵抗所述压杆下压的缓冲力。

4.根据权利要求3所述的真空包接触电阻的测量装置,其特征在于,所述缓冲机构包括缓冲触头簧和滑动轴,所述滑动轴的上端部固定连接于所述压杆的下端部,所述滑动轴的下端部滑动连接于所述导电座的上端部,所述缓冲触头簧套设在所述滑动轴上,所述滑动轴的上端部设置有限位结构,所述缓冲触头簧的上端部抵接于所述限位结构,所述缓冲触头簧的下端部抵接于所述导电座的上端部。

5.根据权利要求2所述的真...

【专利技术属性】
技术研发人员:苏海博王勇顾乐叶建斌李晨涛曲德宇
申请(专利权)人:广东电网有限责任公司广州供电局
类型:发明
国别省市:

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