【技术实现步骤摘要】
本专利技术是关于系统除错，尤指一种用来进行一芯片内部的除错控制的设备以及方法。
技术介绍
1、为了进行系统除错，芯片除了功能模式(function mode)外还可利用具备扫描模式(scan mode)的扫描链(scan chain)，在芯片运作到某个状态时能将芯片中的信息倒出以进行进一步的分析及除错。然而，相关技术需要在功能模式执行一定的频率周期后就切换到扫描模式，因为扫描链长度很长，所以需要多个频率周期才能完整地取得芯片内的瞬时数据。尤其当系统回报错误时，相关技术典型地需要反复地在功能模式与扫描模式之间切换，才得以将与芯片的运作错误对应的瞬时数据取出以供后续分析之用，因此会耗费大量的时间成本。另外，芯片上的硬件错误并不一定是固定型故障(stuck-at fault)，因此利用相关技术的方法所撷取出的瞬时数据的值与实际执行程序的情况下所得到的值可能不同，导致除错方向错误。
2、为了解决上述问题，可增加追踪缓冲器(trace buffer)或是在小功能单元中增加校验码(check code)解决上述问题。然而，增加追踪缓冲器...
【技术保护点】
1.一种用来进行芯片内部的除错控制的设备，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的设备，其特征在于，该设备还包括：
3.如权利要求2所述的设备，其特征在于，当该设备接收到错误信息时，该第一计数器依据该错误信息被配置为对接收到该特定信号的次数进行计数，以对该特定系统请求被执行的次数进行计数。
4.如权利要求1所述的设备，其特征在于，当该第一判断结果指出该第一计数结果达到该第一阈值时，该第二计数器开始对该执行频率的该周期数进行计数，以产生该第二计数结果。
5.如权利要求1所述的设备，其特征在于，该第一阈值是依据该第一计数器...
【技术特征摘要】
1.一种用来进行芯片内部的除错控制的设备，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的设备，其特征在于，该设备还包括：
3.如权利要求2所述的设备，其特征在于，当该设备接收到错误信息时，该第一计数器依据该错误信息被配置为对接收到该特定信号的次数进行计数，以对该特定系统请求被执行的次数进行计数。
4.如权利要求1所述的设备，其特征在于，当该第一判断结果指出该第一计数结果达到该第一阈值时，该第二计数器开始对该执行频率的该周期数进行计数，以产生该第二计数结果。
5.如权利要求1所述的设备，其特征在于，该第一阈值是依据该第一计数器在该设备在先前该芯片执行的期间接收到错误信息时产生的先前的第一计数结果来决定，以及该第二阈值是依据该第二计数器在该设备在先前该芯片执行的期间接收到该错误信息时产生的先前的第二计数结果来决定，以将该芯片的执行在该设备接收到该错误信息时的状态设为该断点状态。
6.如权利要求1所述的设备，其特征在于，该第一阈值是依据该第一计数器在该设备在先前该芯片执行的期间接收到错误信息时产生的先前的第一计...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈泳成，许廷硕，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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