一种离子抓取确定方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:41971443 阅读:21 留言:0更新日期:2024-07-10 16:51
本发明专利技术实施例公开了一种离子抓取确定方法、装置、电子设备及存储介质。该方法与离子阱设备配合应用,离子阱设备包括辐射光子检测光路、离子源、离子阱芯片以及多普勒冷却光路,该方法包括:获取通过辐射光子检测光路针对光子进行检测得到的光子信息,其中,光子是冷却离子按照循环跃迁体系辐射得到,冷却离子通过红失谐光对位于离子阱芯片中的源离子进行照射得到,源离子由离子源发射到离子阱芯片中,红失谐光由多普勒冷却光路射出;基于光子信息,确定表征冷却离子是否抓取成功的离子抓取信息。本发明专利技术实施例的技术方案,解决了无法确定通过多普勒冷却方式得到的冷却离子是否成功抓取的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及离子抓取,尤其涉及一种离子抓取确定方法、装置、电子设备及存储介质


技术介绍

1、在离子阱量子计算机中,可通过多普勒冷方式进行离子冷却,从而将冷却后的离子(这里称为冷却离子)大致囚禁在离子阱芯片中的离子囚禁位置中,实现了冷却离子抓取;然后,再通过亚多普勒冷却方式进一步进行离子冷却,即对冷却离子再次进行冷却,实现了对离子量子态的操控或者读出。

2、需要说明的是,确定冷却离子抓取成功与否,这对后续冷却离子的进一步处理至关重要。但是,目前无法确定是否成功抓取冷却离子,叩待解决。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供了一种离子抓取确定方法、装置、电子设备及存储介质,解决了无法确定通过多普勒冷却方式得到的冷却离子是否成功抓取的问题。

2、根据本专利技术的一方面,提供了一种离子抓取确定方法,方法与离子阱设备配合应用,离子阱设备包括辐射光子检测光路、离子源、离子阱芯片以及多普勒冷却光路,方法可以包括:

3、获取通过辐射光子检测光路针对光子进行检测得到的光子信息,其中本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种离子抓取确定方法,其特征在于,所述方法与离子阱设备配合应用,所述离子阱设备包括辐射光子检测光路、离子源、离子阱芯片以及多普勒冷却光路,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述辐射光子检测光路包括第一面光源检测器;

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在所述第一反射光未被所述第一面光源检测器检测到的情况下,关闭所述多普勒冷却光路,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述获取通过所述辐射光子检测光路针对光子进行检测得到的光子信息之前,还包...

【技术特征摘要】

1.一种离子抓取确定方法,其特征在于,所述方法与离子阱设备配合应用,所述离子阱设备包括辐射光子检测光路、离子源、离子阱芯片以及多普勒冷却光路,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述辐射光子检测光路包括第一面光源检测器;

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述在所述第一反射光未被所述第一面光源检测器检测到的情况下,关闭所述多普勒冷却光路,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述获取通过所述辐射光子检测光路针对光子进行检测得到的光子信息之前,还包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:刘志超刘庆吴亚贺羽
申请(专利权)人:国仪量子技术合肥股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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