一种复杂地表浮动基准面校正方法技术

技术编号:41965908 阅读:28 留言:0更新日期:2024-07-10 16:47
本发明专利技术提供了一种复杂地表浮动基准面校正方法。该方法确定工区炮点、检波点处的静校正量以及计算所述静校正量所用的高速层顶界面;基于工区炮点、检波点处的静校正量,利用平均静校正量法得到浮动基准面的低频静校正量,并计算CMP道集内各道对应的炮点、检波点处的高频静校正量;计算CMP道集内各道对应的炮点、检波点处从地表到所述高速层顶界面的剥离时间量;重构各个CMP道集的低频静校正量,使得在各个CMP道集内每道对应的炮点、检波点处的高频静校正量不小于每道对应的炮点、检波点处从地表到高速层顶界面的剥离时间量;基于重构的低频静校正量,重新计算CMP道集内各道对应的炮、检波点处的高频静校正量;基于重构的低频静校正量和重新计算的高频静校正量,将CMP道集校正到新的浮动基准面。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及地震勘探,尤其涉及一种地震资料处理中的复杂地表浮动基准面校正方法、装置、计算机可读存储介质和电子设备。


技术介绍

1、在地震资料时间域处理中,对于地表存在较大起伏和复杂近地表构造的地区,为了在速度分析和叠加时减小起伏地表、近地表速度横向变化的影响,使拾取反射波速度的t0时间接近原始记录的t0时间,满足地下反射信号的同相叠加,一般在浮动基准面上进行速度分析和叠加,以减少静校正误差和防止假构造的出现(刘治凡,1998;李振春,2014)。

2、常规的浮动基准面确定方法一般分为两类,一类通过直接计算浮动基准面对应的起伏高程面来确定,另一类并不直接计算浮动基准面,而是通过对静校正量的计算将地震数据校正到浮动基准面(王胜春,1985;林伯香,2003)。前者包括平滑地表高程法、平滑低速带底面法、人为给定法以及最小静校正误差浮动基准面法,后者主要是平均静校正量法浮动基准面。

3、对于上述第一类浮动基准面,一般选取地表高程的平滑面;另一类为基于炮检波点静校正量的平均静校正量法浮动基准面,该方法对同一个cmp道集内所有地震道对应的炮检本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种复杂地表浮动基准面校正方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的复杂地表浮动基准面校正方法,其特征在于,在步骤S100中,利用初至折射静校正、初至层析静校正或高程静校正方法,确定工区炮点、检波点静校正量以及计算所述静校正量所用的高速层顶界面。

3.如权利要求1所述的复杂地表浮动基准面校正方法,其特征在于,在步骤S200中,根据下式确定低频静校正量tcmp,

4.如权利要求3所述的复杂地表浮动基准面校正方法,其特征在于,在步骤S200中,根据下式确定CMP道集内的各道的高频静校正量ti,

5.如权利要求1所述的复杂地表浮...

【技术特征摘要】

1.一种复杂地表浮动基准面校正方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的复杂地表浮动基准面校正方法,其特征在于,在步骤s100中,利用初至折射静校正、初至层析静校正或高程静校正方法,确定工区炮点、检波点静校正量以及计算所述静校正量所用的高速层顶界面。

3.如权利要求1所述的复杂地表浮动基准面校正方法,其特征在于,在步骤s200中,根据下式确定低频静校正量tcmp,

4.如权利要求3所述的复杂地表浮动基准面校正方法,其特征在于,在步骤s200中,根据下式确定cmp道集内的各道的高频静校正量ti,

5.如权利要求1所述的复杂地表浮动...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐蔚亚张媛莫延钢李路晨朱成宏
申请(专利权)人:中国石油化工股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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