【技术实现步骤摘要】
本公开涉及自动化设备，尤其是涉及一种引线框架检测装置。
技术介绍
1、引线框架是一种结构载体，作为半导体、微电子封装的专用键合材料，是形成电气回路关键的结构存在，作为内部电路与外部导线连接的桥梁，引线框架起到了稳固芯片、传导信号、传输热量的作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料。
2、引线框架用铜合金大致分为铜-铁系、铜-镍-硅系、铜-铬系、铜-镍-锡系(jk-2合金)等，三元、四元等多元系铜合金能够取得比传统二元合金更优的性能，更低的成本，铜一铁系合金的牌号最多，具有较好的机械强度，抗应力松弛特性和低蠕变性，是一类很好的引线框架材料。
3、申请号为202111552515.9的中国专利公开了一种引线框架检测设备，包括机架，机架上依次设置有上料机构、除尘单元、视觉检测模块以及下料机构，上料机构和下料机构之间依次设置有第一直线模组和第二直线模组，第一直线模组和第二直线模组的输出端分别设置有移载载具和缓存载具，除尘单元具有供移载载具通过的除尘通道，视觉检测模块具有供移载载具通...
【技术保护点】
1.一种引线框架检测装置，其特征在于，包括工作台，所述工作台上设置有上料区和检测区，所述上料区包括至少两个平行布置的上料仓，上料区设置有上料机械手(4)，上料机械手(4)用于将上料仓的产品运送至检测区。
2.根据权利要求1所述的引线框架检测装置，其特征在于，上料区还设置有人工上料平台(1)，工人先将产品置于人工上料平台(1)，再将人工上料平台(1)上的产品转移至上料仓。
3.根据权利要求2所述的引线框架检测装置，其特征在于，所述上料仓为两个，分别为第一上料仓(2)和第二上料仓(3)。
4.根据权利要求3所述的引线框架检测装置，其特征...
【技术特征摘要】
1.一种引线框架检测装置，其特征在于，包括工作台，所述工作台上设置有上料区和检测区，所述上料区包括至少两个平行布置的上料仓，上料区设置有上料机械手(4)，上料机械手(4)用于将上料仓的产品运送至检测区。
2.根据权利要求1所述的引线框架检测装置，其特征在于，上料区还设置有人工上料平台(1)，工人先将产品置于人工上料平台(1)，再将人工上料平台(1)上的产品转移至上料仓。
3.根据权利要求2所述的引线框架检测装置，其特征在于，所述上料仓为两个，分别为第一上料仓(2)和第二上料仓(3)。
4.根据权利要求3所述的引线框架检测装置，其特征在于，上料区设置有互相平行的第一轨道和第二轨道(32)，所述第一轨道和第二轨道(32)靠近人工上料平台(1)设置，所述第一上料仓(2)滑动设置在第一轨道上，所述第二上料仓(3)滑动设置在第二轨道(32)上。
5.根据权利要求4所述的引线框架检测装置，其特征在于，所述第一上料仓(2)设置有第一底板(21)，第一上料仓(2)的产品置于第一底板(21)上，第一底板(21)滑动设置在第一轨道上，所述第二上料仓(3)设置有第二底板(31)，第二上料仓(3)的产品置于第二底板(31)上，第二底板(31)滑动设置在第二轨道(32)上。
6.根据权利要求5所述的引线框架检测装置，其特征在于，所述第一底板(21)上连接有用于驱动第一底板(21)上升或下降...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖传兴，
申请(专利权)人：宁波港波电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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