【技术实现步骤摘要】
本申请涉及检测,特别是涉及一种检测装置。
技术介绍
1、发光芯片可以用于信号传输,使得发光芯片在通讯
有着极为广泛的应用。一般地,需要通过检测装置对发光功率和光谱等参数进行检测,以便测试发光芯片是否合格。但是,对于传统的检测装置,将使得发光芯片的检测时间延长,从而存在检测效率偏低的缺陷。
技术实现思路
1、本申请解决的一个技术问题是如何提高检测装置的检测效率。
2、一种检测装置,包括:
3、基座;
4、支撑机构,所述支撑机构设置在所述基座上并包括支撑台,所述支撑台用于承载带待检测的工件;及
5、检测机构,所述检测机构设置在所述基座上并包括检测驱动组件、检测台和多个检测头,所述检测驱动组件与所述检测台连接并驱动所述检测台沿x轴方向运动,所述检测头固定在所述检测头上,且多个所述检测头沿x轴方向间隔设置;当所述检测台沿x轴方向运动时,多个所述检测头依次对工件的不同参数进行检测。
6、在其中一个实施例中,所述检测驱动组件包括检测驱动
...【技术保护点】
1.一种检测装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述检测驱动组件包括检测驱动器和检测滑块,所述检测驱动器设置在所述基座上,所述检测滑块与所述基座沿X轴方向滑动连接,所述检测驱动器驱动所述检测滑块运动,所述检测台能够与所述检测滑块连接。
3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述检测机构还包括检测微调组件,所述检测微调组件连接在所述检测台和所述检测滑块之间,所述检测微调组件用于驱动所述检测台沿X轴方向、Y轴方向和Z轴方向运动以对所述检测台的位置进行微调。
4.根据权利要求1所述的检测装置,其
...【技术特征摘要】
1.一种检测装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述检测驱动组件包括检测驱动器和检测滑块,所述检测驱动器设置在所述基座上,所述检测滑块与所述基座沿x轴方向滑动连接,所述检测驱动器驱动所述检测滑块运动,所述检测台能够与所述检测滑块连接。
3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述检测机构还包括检测微调组件,所述检测微调组件连接在所述检测台和所述检测滑块之间,所述检测微调组件用于驱动所述检测台沿x轴方向、y轴方向和z轴方向运动以对所述检测台的位置进行微调。
4.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述支撑台上开设有真空孔,所述真空孔能够产生真空以用于将工件吸附在支撑台上。
5.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述支撑机构还包括第一支撑驱动器、第二支撑驱动器和支撑滑块,所述第一支撑驱动器设置在所述基座上并用于驱动所述支撑滑块运动,所述支撑滑块沿y轴方向与所述基座滑动连接;所述支撑台与所述支撑滑块沿x轴方向滑动连接,所述第二支撑驱动器设置在所述支撑滑块上并用于驱动...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄忠志,
申请(专利权)人:镭神技术深圳有限公司,
类型:新型
国别省市:
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