检测装置制造方法及图纸

本申请涉及一种检测装置。包括：基座；支撑机构，所述支撑机构设置在所述基座上并包括支撑台，所述支撑台用于承载带待检测的工件；及检测机构，所述检测机构设置在所述基座上并包括检测驱动组件、检测台和多个检测头，所述检测驱动组件与所述检测台连接并驱动所述检测台沿X轴方向运动，所述检测头固定在所述检测头上，且多个所述检测头沿X轴方向间隔设置；当所述检测台沿X轴方向运动时，多个所述检测头依次对工件的不同参数进行检测。如此一方面将省去对工件进行多次定位和卸载的时间，另一方面也省去工件的转移时间，从而延减少工件的检测时间，最终提高工件的检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及检测，特别是涉及一种检测装置。

技术介绍

1、发光芯片可以用于信号传输，使得发光芯片在通讯
有着极为广泛的应用。一般地，需要通过检测装置对发光功率和光谱等参数进行检测，以便测试发光芯片是否合格。但是，对于传统的检测装置，将使得发光芯片的检测时间延长，从而存在检测效率偏低的缺陷。

技术实现思路

1、本申请解决的一个技术问题是如何提高检测装置的检测效率。

2、一种检测装置，包括：

3、基座；

4、支撑机构，所述支撑机构设置在所述基座上并包括支撑台，所述支撑台用于承载带待检测的工件；及

5、检测机构，所述检测机构设置在所述基座上并包括检测驱动组件、检测台和多个检测头，所述检测驱动组件与所述检测台连接并驱动所述检测台沿x轴方向运动，所述检测头固定在所述检测头上，且多个所述检测头沿x轴方向间隔设置；当所述检测台沿x轴方向运动时，多个所述检测头依次对工件的不同参数进行检测。

6、在其中一个实施例中，所述检测驱动组件包括检测驱动器和检测滑块，所述检测驱动器设置在所述基座上，所述检测滑块与所述基座沿x轴方向滑动连接，所述检测驱动器驱动所述检测滑块运动，所述检测台能够与所述检测滑块连接。

7、在其中一个实施例中，所述检测机构还包括检测微调组件，所述检测微调组件连接在所述检测台和所述检测滑块之间，所述检测微调组件用于驱动所述检测台沿x轴方向、y轴方向和z轴方向运动以对所述检测台的位置进行微调。

8、在其中一个实施例中，所述支撑台上开设有真空孔，所述真空孔能够产生真空以用于将工件吸附在支撑台上。

9、在其中一个实施例中，所述支撑机构还包括第一支撑驱动器、第二支撑驱动器和支撑滑块，所述第一支撑驱动器设置在所述基座上并用于驱动所述支撑滑块运动，所述支撑滑块沿y轴方向与所述基座滑动连接；所述支撑台与所述支撑滑块沿x轴方向滑动连接，所述第二支撑驱动器设置在所述支撑滑块上并用于驱动所述支撑台滑动。

10、在其中一个实施例中，所述支撑机构还包括控温器，所述控温器设置在支撑台上并用于调节工件的温度。

11、在其中一个实施例中，还包括加电机构，所述加电机构包括加电台、探针和加电微调组件，所述加电微调组件设置在所述基座上，所述加电台与所述加电微调组件连接，所述探针设置在所述加电台上并用于对工件加电，所述加电微调组件用于驱动所述加电台沿x轴方向、y轴方向和z轴方向运动以对所述探针的位置进行微调。

12、在其中一个实施例中，还包括视觉机构，所述视觉机构包括视觉微调组件和相机，所述视觉微调组件设置在所述基座上，所述相机设置在所述视觉微调组件上，所述视觉微调组件用于驱动所述相机沿x轴方向、y轴方向和z轴方向运动以对所述相机的位置进行微调，所述相机用于对所述探针采集图像。

13、在其中一个实施例中，所述基座采用大理石材料制成。

14、在其中一个实施例中，所述支撑台和所述检测台沿y轴方向间隔设置。

15、本申请的一个实施例的一个技术效果是：鉴于检测台沿x轴方向运动并使多个检测头依次对工件的不同参数进行检测，使得当其中一个检测头对工件的一个参数检测完毕之后，通过检测驱动组件带动检测台运动小段距离，使得与该检测头相邻的下一个检测头运动到与工件相对的位置以便能接收工件的光线，继而使得下一个检测头能够对工件的另外一个参数进行检测。因此，当全部检测头经过该工件后，可以使得全部检测头对工件所对应的所有参数进行检测。在工件的检测过程中，工件始终固定在支撑台上而无需相对支撑台产生多次装载和卸载，如此一方面将省去对工件进行多次定位和卸载的时间，另一方面也省去工件的转移时间，从而延减少工件的检测时间，最终提高工件的检测效率。

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【技术保护点】

1.一种检测装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测驱动组件包括检测驱动器和检测滑块，所述检测驱动器设置在所述基座上，所述检测滑块与所述基座沿X轴方向滑动连接，所述检测驱动器驱动所述检测滑块运动，所述检测台能够与所述检测滑块连接。

3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述检测机构还包括检测微调组件，所述检测微调组件连接在所述检测台和所述检测滑块之间，所述检测微调组件用于驱动所述检测台沿X轴方向、Y轴方向和Z轴方向运动以对所述检测台的位置进行微调。

4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述支撑台上开设有真空孔，所述真空孔能够产生真空以用于将工件吸附在支撑台上。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述支撑机构还包括第一支撑驱动器、第二支撑驱动器和支撑滑块，所述第一支撑驱动器设置在所述基座上并用于驱动所述支撑滑块运动，所述支撑滑块沿Y轴方向与所述基座滑动连接；所述支撑台与所述支撑滑块沿X轴方向滑动连接，所述第二支撑驱动器设置在所述支撑滑块上并用于驱动所述支撑台滑动。</p>

6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述支撑机构还包括控温器，所述控温器设置在支撑台上并用于调节工件的温度。

7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括加电机构，所述加电机构包括加电台、探针和加电微调组件，所述加电微调组件设置在所述基座上，所述加电台与所述加电微调组件连接，所述探针设置在所述加电台上并用于对工件加电，所述加电微调组件用于驱动所述加电台沿X轴方向、Y轴方向和Z轴方向运动以对所述探针的位置进行微调。

8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，还包括视觉机构，所述视觉机构包括视觉微调组件和相机，所述视觉微调组件设置在所述基座上，所述相机设置在所述视觉微调组件上，所述视觉微调组件用于驱动所述相机沿X轴方向、Y轴方向和Z轴方向运动以对所述相机的位置进行微调，所述相机用于对所述探针采集图像。

9.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述基座采用大理石材料制成。

10.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述支撑台和所述检测台沿Y轴方向间隔设置。

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【技术特征摘要】

1.一种检测装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测驱动组件包括检测驱动器和检测滑块，所述检测驱动器设置在所述基座上，所述检测滑块与所述基座沿x轴方向滑动连接，所述检测驱动器驱动所述检测滑块运动，所述检测台能够与所述检测滑块连接。

3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述检测机构还包括检测微调组件，所述检测微调组件连接在所述检测台和所述检测滑块之间，所述检测微调组件用于驱动所述检测台沿x轴方向、y轴方向和z轴方向运动以对所述检测台的位置进行微调。

4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述支撑台上开设有真空孔，所述真空孔能够产生真空以用于将工件吸附在支撑台上。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述支撑机构还包括第一支撑驱动器、第二支撑驱动器和支撑滑块，所述第一支撑驱动器设置在所述基座上并用于驱动所述支撑滑块运动，所述支撑滑块沿y轴方向与所述基座滑动连接；所述支撑台与所述支撑滑块沿x轴方向滑动连接，所述第二支撑驱动器设置在所述支撑滑块上并用于驱动...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄忠志，
申请(专利权)人：镭神技术深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：