【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种荧光分析系统,尤其是涉及一种x射线荧光探测装置。
技术介绍
1、x射线荧光探测是一种非破坏形检测技术,广泛应用于材料分析,生物医学、环境监测等领域。由于待检测的样品元素有很多,现有的全反射x射线荧光分析技术通常选配单一的x射线管作为激发源,而单一的x射线管由于靶材与工作电压特定,工作时所产生的x射线的特征谱线是固定的,所以单一的x射线管只适合待测样品中一部分元素的检测分析,对待测样品中另一部分元素分析比较困难,比如靶材工作时产生的谱线会完全掩盖某些待测元素的特征谱线,无法兼具不同x射线激发源的特性优势,适合检测分析的元素种类有限。而若将x射线管进行拆卸更换时,则需重新进行校准和标定,操作复杂且无法立即用于x射线荧光分析,因此,亟需一种x射线荧光探测装置,能够兼具不用的x射线激发源,对待测样品中的全部元素进行分析。
技术实现思路
1、本技术所要解决的技术问题是:提供一种x射线荧光探测装置,能够兼具不用的x射线激发源,对待测样品中的全部元素进行分析。
2、为了解决上述
...【技术保护点】
1.一种X射线荧光探测装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的X射线荧光探测装置,其特征在于,X射线荧光探测装置包括手轮、支撑柱和转轴,转盘通过支撑柱与外壳内部连接,转轴位于支撑柱内部与转盘同轴传动连接,手轮同轴连接于转轴,手轮位于外壳外。
3.根据权利要求1所述的X射线荧光探测装置,其特征在于,外壳内部设有平台,平台设有凹槽,样品载物台下设有与凹槽匹配的限位件。
4.根据权利要求1所述的X射线荧光探测装置,其特征在于,X射线荧光探测装置还包括准直器,准直器连接于外壳内,准直器位于转盘和样品载物台之间,在转盘的某一个状态下
...【技术特征摘要】
1.一种x射线荧光探测装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的x射线荧光探测装置,其特征在于,x射线荧光探测装置包括手轮、支撑柱和转轴,转盘通过支撑柱与外壳内部连接,转轴位于支撑柱内部与转盘同轴传动连接,手轮同轴连接于转轴,手轮位于外壳外。
3.根据权利要求1所述的x射线荧光探测装置,其特征在于,外壳内部设有平台,平台设有凹槽,样品载物台下设有与凹槽匹配的限位件。
4.根据权利要求1所述的x射线荧光探测装置,其特征在于,x射线荧光探测装置还包括准直...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈胜,丘能慈,
申请(专利权)人:福州致胜光电科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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