一种光路共轴的流场温度测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光路共轴的流场温度测量装置，属于流场温度测量领域，其包括解离光路、OH激励光路、采集待测流场荧光信号的荧光采集组件和与荧光采集组件连接的计算机；解离光路包括ArF准分子激光器及依次对ArF准分子激光器产生的解离激光源进行传输的凹透镜、双面激光反射镜、激光反射镜和激光会聚透镜；OH激励光路包括依次OH激励源组件及依次对OH激励源组件产生的双色测温激励激光束进行传输的双面激光反射镜、平凹柱透镜和平凸柱透镜，所述平凸柱透镜安装于第一通孔内；本方案通过光路优化布局，使解离聚焦光束与激励诱导激光片以共轴方式输出，可有效保障聚焦光束始终处于激励诱导激光片状空间内，使得结构相对紧凑。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及流场温度测量领域，具体涉及一种光路共轴的流场温度测量装置。

技术介绍

1、温度是表征流场热力学特性的重要参数，有效的流场温度测量是流场实验研究及工程应用的必要前提。激光诊断测温技术因其无干扰、高空间分辨率和时间分辨率而备受青睐，其中，对于含水汽流场的二维温度场测量，常用基于羟基标记的平面激光诱导荧光（oh-plif）方法。oh-plif通过紫外激光解离流场h2o分子产生oh，然后由片激光激励诱导oh产生荧光，根据双线荧光强度对比反演流场温度。现有oh-plif测温构型中，紫外激光解离光路与oh激励诱导光路各自分离，解离聚焦光束与激励诱导激光片以斜轴交叉方式作用待测流场区域。该种结构复杂，为满足聚焦光束始终处于激励诱导激光片状空间内，调试、对准困难；而且，在强振动环境下应用，对精密调节要求较高，工程应用极易失调。

技术实现思路

1、针对现有技术中的上述不足，本专利技术提供的光路共轴的流场温度测量装置解决了现有技术中的oh-plif测温构型结构复杂的问题。

2、为了达到上述专利技术目的，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光路共轴的流场温度测量装置，其特征在于，包括解离光路、OH激励光路、采集待测流场荧光信号的荧光采集组件和与荧光采集组件连接的计算机；

2.根据权利要求1所述的光路共轴的流场温度测量装置，其特征在于，所述激光反射镜位于解离光路中的凹透镜和双面激光反射镜之间，且其中心开设有第二通孔，经凹透镜扩束后的解离激光束穿过第二通孔，照射至双面激光反射镜的曲面反射面上；所述第一通孔和第二通孔的中心轴线均与解离激光束光轴重合。

3.根据权利要求2所述的光路共轴的流场温度测量装置，其特征在于，所述激光反射镜的激光反射面为曲面并背向凹透镜；双面激光反射镜的曲面反射面与激光反射镜...

【技术特征摘要】

1.一种光路共轴的流场温度测量装置，其特征在于，包括解离光路、oh激励光路、采集待测流场荧光信号的荧光采集组件和与荧光采集组件连接的计算机；

2.根据权利要求1所述的光路共轴的流场温度测量装置，其特征在于，所述激光反射镜位于解离光路中的凹透镜和双面激光反射镜之间，且其中心开设有第二通孔，经凹透镜扩束后的解离激光束穿过第二通孔，照射至双面激光反射镜的曲面反射面上；所述第一通孔和第二通孔的中心轴线均与解离激光束光轴重合。

3.根据权利要求2所述的光路共轴的流场温度测量装置，其特征在于，所述激光反射镜的激光反射面为曲面并背向凹透镜；双面激光反射镜的曲面反射面与激光反射镜的激光反射面正对；所述激光会聚透镜与双面激光反射镜的45°平面反射面正对。

4.根据权利要求1所述的光路共轴的流场温度测量装置，其特征在于，所述平凸柱透镜的凸柱面正对待测流场，所述平凹柱透镜的凹柱面正对45°平面反射面；凸柱面弯曲方向相对凹柱面弯曲方向偏转90°。

5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：张亚筠，胡桐，高嘉豪，胡志云，曹娜，
申请(专利权)人：上海交通大学四川研究院，
类型：发明
国别省市：