一种超宽带平面波生成系统以及具有其的测试系统、以及测试系统的近场测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种超宽带平面波生成系统以及具有其的测试系统、以及测试系统的近场测试方法。其中超宽带平面波生成系统包括免调试平面波生成器、电磁屏蔽体、吸波材料、EUT被测设备和载物转台，平面波生成器、吸波材料、载物转台和EUT被测设备位于电磁屏蔽体内，电磁屏蔽体形成有与平面波生成器口面同尺寸的静区，平面波生成器位于电磁屏蔽体内壁的一侧，EUT被测设备固定在载物转台上，载物转台和EUT待测设备位于电磁屏蔽体内壁的另一侧，平面波生成器包括功分馈电网络、稳幅稳相电缆以及由N个天线单元组成的天线阵列，天线单元通过稳幅稳相电缆与功分馈电网络相连接，吸波材料位于电磁屏蔽体的内侧壁上。本发明专利技术场源距离近，免调试，测试精度高，成本低，测试方便，对场地要求低，维护要求低。

【技术实现步骤摘要】

：本专利技术涉及一种低成本免调试高精度的超宽带平面波生成测试系统及近场测试方法，其属于平面波测量。

技术介绍

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技术介绍
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1、平面波微波测量系统是电磁场与微波
最常用的测试系统之一，是电子信息领域的产品研发、生产和销售的必备测试系统之一。常见的平面波测量方法有四种，第一种为远场法，通过远处的发射天线发射球面波，当接收天线满足远场条件时，被测设备eut接收的信号幅度和相位可近似满足平面波条件。远场法具有测试场地尺寸大和成本高等缺点。第二种为紧缩场法，紧缩场测量法是一种近距离实现平面波远场测量技术。紧缩场是利用一个或多个抛物面反射器，在被测设备eut区产生一个准平面波。紧缩场测量降低了对测试距离的要求，但具有抛物面反射器的制作工艺高，维护成本高，建设成本高等缺点。第三种为近场法，采用近场探头阵列或者扫描的形式对被测设备eut的近场区的球面、柱面或平面进行采样测量，并经过数据处理获得待测物的远场电磁参数。但具有测量精度低、部分技术参数无法测量等缺点。第四种为平面波生成法，通过天线阵列和连接每一个天线单元的幅相调节控制电路，在天线阵面附近生产本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种超宽带平面波生成系统，其特征在于：包括免调试平面波生成器(1)、电磁屏蔽体(2)、吸波材料(3)、EUT被测设备(5)和载物转台(6)，所述平面波生成器(1)、吸波材料(3)、载物转台(6)和EUT被测设备(5)位于电磁屏蔽体(2)内，所述电磁屏蔽体(2)形成有与平面波生成器(1)口面同尺寸的静区(7)，所述平面波生成器(1)位于电磁屏蔽体(2)内壁的一侧，所述EUT被测设备(5)固定在载物转台(6)上，所述载物转台(6)和EUT待测设备(5)位于电磁屏蔽体(2)内壁的另一侧，所述平面波生成器(1)包括功分馈电网络(11)、稳幅稳相电缆(12)以及由N个天线单元组成的天线阵列(1...

【技术特征摘要】

1.一种超宽带平面波生成系统，其特征在于：包括免调试平面波生成器(1)、电磁屏蔽体(2)、吸波材料(3)、eut被测设备(5)和载物转台(6)，所述平面波生成器(1)、吸波材料(3)、载物转台(6)和eut被测设备(5)位于电磁屏蔽体(2)内，所述电磁屏蔽体(2)形成有与平面波生成器(1)口面同尺寸的静区(7)，所述平面波生成器(1)位于电磁屏蔽体(2)内壁的一侧，所述eut被测设备(5)固定在载物转台(6)上，所述载物转台(6)和eut待测设备(5)位于电磁屏蔽体(2)内壁的另一侧，所述平面波生成器(1)包括功分馈电网络(11)、稳幅稳相电缆(12)以及由n个天线单元组成的天线阵列(13)，所述天线单元通过稳幅稳相电缆(12)与功分馈电网络(11)相连接，所述吸波材料(3)位于电磁屏蔽体(2)的内侧壁上。

2.如权利要求1所述的免调试高精度的超宽带平面波生成系统，其特征在于：所述天线阵列(13)的面积等于电磁屏蔽体(2)侧面减去吸波材料(3)的面积，所述天线阵列(13)形成的宽带静区等于电磁屏蔽体(2)内减除吸波材料(3)的体积。

3.如权利要求1所述的免调试高精度的超宽带平面波生成系统，其特征在于：所述天线单元包括vivaldi、偶极子、单级子、角锥喇叭、加脊喇叭。

4.如权利要求1所述的免调试高精度的超...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘少斌，王骏寅，
申请(专利权)人：南京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：