一种分析库构建方法、设计版图布局方法、系统及存储介质技术方案

技术编号:41872852 阅读:17 留言:0更新日期:2024-07-02 00:24
本发明专利技术涉及芯片设计领域,特别涉及一种分析库构建方法、设计版图布局方法、系统及存储介质。本发明专利技术提供的分析库构建方法包括以下步骤:提供设计版图的设计过程中的的标准单元;选择标准单元相邻设置并基于神经网络模型检测标准单元相邻时的坏点数值;收集坏点数值得到标准单元的标准单元分析库。本发明专利技术通过神经网络模型来快速分析预设的各种标准单元相邻设置时坏点数值,并将标准单元组合及其对应的坏点数值集合设置为标准单元分析库,通过神经网络模型的快速分析处理能力来进行分析使得构建该标准单元分析库需要的时间较短,同时检索调阅该标准单元分析库可以快速高效地得到不同标准单元相邻设置时的坏点数值。

【技术实现步骤摘要】

【】本专利技术涉及芯片设计领域,特别涉及一种分析库构建方法、设计版图布局方法、系统及存储介质


技术介绍

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技术介绍

1、目前半导体行业的业务模式分为晶圆代工(fab)和纯设计公司(fabless),通常fabless设计出芯片,然后依赖于fab来实现芯片的生产,芯片设计和制造是分离的。当然在芯片设计时,会考虑到来自制造端提供的设计规则(design rule)的约束,但基本上双方的信息交互是有限的。随着工艺节点的不断演进,器件的集成度越来越高,制造难度越来越大,设计端考虑设计规则并不能保证制造端可以得到很好的良率,一些顽固的工艺坏点如果能在芯片设计时就能充分考虑到,则可以大大减轻工艺段的压力。

2、在芯片光刻设计过程中存在多次使用和重复的、具有特定功能和接口的预先设计好的标准单元,这些标准单元可以包括逻辑门、触发器、存储器单元等。这些标准单元代表了芯片中的基本功能区域,可以被重复地布置在整个芯片上,以构建复杂的电路和系统。在芯片设计中,设计师可以通过设计不同功能的标准单元进行布局,来实现芯片所需的各种功能。这种模块化的设计方本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种分析库构建方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的一种分析库构建方法,其特征在于:

3.如权利要求2所述的一种分析库构建方法,其特征在于:

4.一种设计版图布局方法,其特征在于,包括以下步骤:

5.如权利要求4所述的一种设计版图布局方法,其特征在于:

6.如权利要求5所述的一种设计版图布局方法,其特征在于:

7.如权利要求6所述的一种设计版图布局方法,其特征在于:

8.如权利要求7所述的一种设计版图布局方法,其特征在于:

9.一种设计版图布局系统,其特征在于,包括:...

【技术特征摘要】

1.一种分析库构建方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的一种分析库构建方法,其特征在于:

3.如权利要求2所述的一种分析库构建方法,其特征在于:

4.一种设计版图布局方法,其特征在于,包括以下步骤:

5.如权利要求4所述的一种设计版图布局方法,其特征在于:

6.如权利要求5所述的一种设计版图布局方法,其特征在于:

【专利技术属性】
技术研发人员:张生睿俞宗强施伟杰
申请(专利权)人:东方晶源微电子科技北京股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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