结构光发射器的性能评估方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:41870122 阅读:21 留言:0更新日期:2024-07-02 00:20
本公开是关于一种结构光发射器的性能评估,属于结构光摄像技术领域。所述方法包括:确定结构光发射器的编码损失率,编码损失率用于表征结构光发射器产生的结构光的空间编码损失;确定结构光发射器的能量损失率,能量损失率用于表征结构光发射器的能量损失;根据编码损失率和能量损失率,确定结构光发射器的性能评估结果。本公开提供一种结构光发射器的性能评价方法,丰富了结构光发射器的性能评估手段,通过编码损失率和能量损失率两方面对结构光发射器的性能进行综合评估,有助于确定出综合性能较好的结构光发射器。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及结构光摄像,特别涉及一种结构光发射器的性能评估方法、装置、设备及存储介质


技术介绍

1、结构光深度相机包括结构光发射器,结构光发射器用于产生测量物体深度的结构光。

2、相关技术中,对结构光发射器进行性能评估的方法较为较少,需要设计一种结构光发射器评估方法,对发射端的性能进行衡量。


技术实现思路

1、本公开实施例提供了一种结构光发射器的性能评估方法、装置、设备及存储介质。所述技术方案如下:

2、根据本公开实施例的一个方面,提供了一种结构光发射器的性能评估方法,所述方法包括:

3、确定结构光发射器的编码损失率,所述编码损失率用于表征所述结构光发射器产生的结构光的空间编码损失;

4、确定所述结构光发射器的能量损失率,所述能量损失率用于表征所述结构光发射器的能量损失;

5、根据所述编码损失率和所述能量损失率,确定所述结构光发射器的性能评估结果。

6、在一些实施例中,所述能量损失率包括:

7、第一能量损失率,用于表征所述结构本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种结构光发射器的性能评估方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述能量损失率包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述结构光发射器的能量损失率,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定结构光发射器的编码损失率,包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述编码损失率和所述能量损失率,确定所述结构光发射器的性能评估结果,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述对所述编码损失率、所述第一能量损失率和所述第二能量损失率进行加...

【技术特征摘要】

1.一种结构光发射器的性能评估方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述能量损失率包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述结构光发射器的能量损失率,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定结构光发射器的编码损失率,包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述编码损失率和所述能量损失率,确定所述结构光发射器的性能评估结果,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述对所述编码损失率、所述第一能量损失率...

【专利技术属性】
技术研发人员:张超
申请(专利权)人:北京小米移动软件有限公司
类型:发明
国别省市:

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