【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体发热膜，尤其是一种红外半导体电热膜耐高温测试装置。
技术介绍
1、利用纳米半导体生长镀膜技术和积淀处理工艺，经过高温烧结，在绝缘体(如玻璃、陶瓷、碳化硅等)表面形成一层极薄的红外半导体膜层，又称金属氧化物电热膜，其具有熔点高、硬度大、电阻低、热效率高且化学稳定性好等特点，通电后可在直流或交流电压下工作，发出的热量可达500℃以上，可替代金属电热丝的传统方法，具有节能环保、安全且成本低等优势。该红外半导体膜在出厂前需要对其进行耐高温测试，以评估其是否符合生产要求和使用条件。
2、授权公告号为cn219552314u的中国技术专利公开了一种包装膜耐高温性测试装置，其通过卷绕电机、牵拉绳、卷绕轮将放置板和测试完的样品拉升至测试箱口处，以便于将样品取下，避免烫伤，提升测试精准度。但其存在的缺陷在于：测试完成后需要先打开密封板，再控制卷绕电机运行以将样品拉升至测试箱口，过程较为繁琐，且结构复杂，设备不够轻量化。
技术实现思路
1、本技术要解决的技术问题在于现有耐高温性测试...
【技术保护点】
1.一种红外半导体电热膜耐高温测试装置，包括测试箱(10)、盖板(11)，测试箱(10)内设有测试板(12)、加热组件(13)，加热组件(13)用于对测试板(12)上的样品进行耐高温测试，其特征在于，盖板(11)端部与测试箱(10)顶部转动连接，盖板(11)底部与摆杆(21)的一端铰接，摆杆(21)的另一端与拉杆(22)铰接，拉杆(22)的另一端与测试板(12)滑动连接，测试板(12)能够沿测试箱(10)内壁滑动，关闭盖板(11)以使测试板(12)滑动至测试箱(10)底部进行耐高温热测试，打开盖板(11)以使测试板(12)滑动至测试箱(10)顶部开口处。
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【技术特征摘要】
1.一种红外半导体电热膜耐高温测试装置，包括测试箱(10)、盖板(11)，测试箱(10)内设有测试板(12)、加热组件(13)，加热组件(13)用于对测试板(12)上的样品进行耐高温测试，其特征在于，盖板(11)端部与测试箱(10)顶部转动连接，盖板(11)底部与摆杆(21)的一端铰接，摆杆(21)的另一端与拉杆(22)铰接，拉杆(22)的另一端与测试板(12)滑动连接，测试板(12)能够沿测试箱(10)内壁滑动，关闭盖板(11)以使测试板(12)滑动至测试箱(10)底部进行耐高温热测试，打开盖板(11)以使测试板(12)滑动至测试箱(10)顶部开口处。
2.根据权利要求1所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置，其特征在于，所述盖板(11)端部与转轴(23)固定，转轴(23)与测试箱(10)轴承连接，转轴(23)的端部与转轮(24)同轴固定，转轮(24)外圆周面连续开设有多个平面(25)，多个平面(25)能够分别与支撑板(26)的上表面接触，支撑板(26)沿竖槽(27)滑动，竖槽(27)开设在测试箱(10)外表面，竖槽(27)的底部与压簧(28)的一端固定，压簧(28)的另一端与支撑板(26)的下表面固定。
3.根据权利要求2所述的红外半导体电热膜耐高温测试装置，其特征在于，所述转轮(24)外圆周面至少连续开设有首平面(251)、尾平面(252)，首平面(251)、尾平面(252)的夹角小于90°；
4.根据权利要求1所述的红...
【专利技术属性】
技术研发人员：任卫民，张东升，杨勇，张秋平，白雨晴，
申请(专利权)人：信阳星原智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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